河南透射卡爾蔡司電子顯微鏡

更新時(shí)間1：2025-09-20 信息編號：e018fcmaa0f31b 舉報(bào)維權(quán)

供應(yīng)商	北京瑞科中儀科技有限公司店鋪
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關(guān)鍵詞	河南電子顯微鏡,透射蔡司電子顯微鏡,高分辨蔡司電子顯微鏡,納米級蔡司電子顯微鏡
所在地	北京市海淀區(qū)建材城西路50號2號樓3層031室

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10年

產(chǎn)品詳細(xì)介紹

Inlens 探測器均放置在鏡筒內(nèi)正光軸上，在減少重新校準(zhǔn)耗時(shí) 的同時(shí)有效地縮短了獲取圖像的時(shí)間。 Gemini 電子束推進(jìn)器技術(shù)可以在非常低的加速電壓下仍獲得小束斑和高信噪比。
此外，它確保了電子束在鏡筒中運(yùn)動時(shí)始終保持高加速電壓，直至出鏡筒后才減速至設(shè)定電壓，更大程度地減小外部雜散磁場對系統(tǒng)靈敏度的影響。GeminiSEM 360 、 GeminiSEM 460 和 GeminiSEM 560 三者均應(yīng)用了 Gemini 設(shè)計(jì)、 Inlens 探測器和電子束推進(jìn)器技術(shù)。

分辨率模式
在高分辨率電子槍模式下，電子束色差降低，從而實(shí)現(xiàn)更小的束斑。
在樣品臺減速技術(shù)模式下，為樣品施加減速電壓。該減速電壓可進(jìn)一步提高 1 kV 以下的圖像分辨率并增強(qiáng)背散射探測器的檢測效率。

背散射電子產(chǎn)生于樣品表面之下，可提供樣品材質(zhì)成分的襯度信息。背散射電子通常以與入射電子束成 15 度角的圓錐狀出射，被 Gemini 鏡筒電子束推進(jìn)器吸入后射到鏡筒內(nèi)。由于二次電子( SE ) 與背散射電子( BSE ) 具有不同的能量，它們會在電子束推進(jìn)器內(nèi)產(chǎn)生不同軌跡。

在工業(yè)質(zhì)量、失效分析或研究環(huán)境中，由于掃描電子顯微鏡可提供高分辨率成像和高空間分辨率元素化學(xué)信息，所以它
是金相學(xué)和失效分析應(yīng)用的理想之選。

專為日常檢測和分析應(yīng)用而設(shè)計(jì)，蔡司 EVO 擁有的操作設(shè)計(jì)理念，無論是經(jīng)驗(yàn)豐富的顯微技術(shù)人員還是不具備掃描顯微鏡知識的工程師，均可輕松上手。它能夠提供出色的數(shù)據(jù)，特別適合于后續(xù)檢測中無法涂覆導(dǎo)電層的非
導(dǎo)電零部件。

產(chǎn)品應(yīng)用領(lǐng)域
■ 金屬 / 高分子 / 陶瓷材料
表面粗糙度分析, 高分辨金相分析, 摩擦磨損分析, 斷口分析, 腐蝕研究, 原位分析。
■ 微納加工
結(jié)構(gòu)分析,表面粗糙度分析, 高深寬比結(jié)構(gòu)表征,膜厚測量。
■ 半導(dǎo)體和微電子
表面缺陷定位和分析、發(fā)光缺陷觀察,表面粗糙度分析,膜厚測量等。
■ 醫(yī)療器械檢測
表面粗糙度分析,金相分析,膜厚測量,微生物觀察等。
■ 生物材料和醫(yī)學(xué)
金屬表面細(xì)胞生長研究, 微生物金屬腐蝕研究, 植入物表面細(xì)菌生長表征等。