產(chǎn)品特點
1.小型化、、高速度、易操作,高靈敏度、分析
2.可同時分析40種元素
3.采用多準(zhǔn)直器多濾光片和扣背景技術(shù)
4. Peltier電制冷 FAST SDD硅漂移檢測器提供出色的短期重復(fù)性和長期再現(xiàn)性以及出色的元素峰分辨率
5.記數(shù)數(shù)字多道電路設(shè)計,雙真空抽速機(jī)構(gòu),真空度自動穩(wěn)定系統(tǒng)
6.標(biāo)配基本參數(shù)法軟件,多任務(wù),多窗口操作
7.薄膜濾光片技術(shù),有效提高輕元素檢出限
全新設(shè)計的XTEST分析軟件
軟件內(nèi)核包括基本參數(shù)法(FP),經(jīng)驗系數(shù)法(EC),可輕松分析各類樣品。 光譜處理參數(shù)包括用于定義背景連續(xù)性,堆積峰和峰總和,平滑度以及測量到的峰背景光譜的數(shù)量 對吸收以及厚膜和薄膜二次熒光的完全校正,即所有基質(zhì)效應(yīng),增強(qiáng)和吸收。
譜顯示:峰定性,KLM標(biāo)記,譜重疊比較,可同時顯示多個光譜圖 可以通過積分峰的凈面積或使用測得的參考光峰響應(yīng),將光峰強(qiáng)度建模為高斯函數(shù)。 可以使用純基本參數(shù)方法,具有分散比的基本參數(shù)(對于包含大量低Z材料的樣品)或通過簡單的小二乘擬合進(jìn)行定量分析。 基本參數(shù)分析可以基于單個多元素標(biāo)準(zhǔn),多個標(biāo)準(zhǔn)或沒有標(biāo)準(zhǔn)的樣品。
鐵精粉光譜儀通常采用光學(xué)原理,包括可見光、紅外光和紫外光等波長范圍。它通過將樣品暴露在特定波長的光下,測量樣品對光的吸收、散射或發(fā)射等特性,然后根據(jù)這些特性獲得樣品的光譜信息。利用鐵精粉光譜儀,可以對鐵精粉樣品的化學(xué)成分、晶體結(jié)構(gòu)、雜質(zhì)含量和物理性。
鐵礦石光譜儀是一種用于分析鐵礦石樣品中的化學(xué)成分和礦物組成的儀器。它通過測量鐵礦石樣品在不同波長的電磁輻射下的吸收或發(fā)射光譜,來確定樣品中的元素和礦物組成。
鐵礦石光譜儀通常采用光柵光譜儀或干涉光譜儀的原理。樣品通過樣品室或探頭被照射光源照射,樣品會吸收特定波長的光,而其他波長的光則被反射或透射。這些吸收、反射或透射光會被光譜儀接收并分析。
礦石光譜儀是一種用于分析礦石成分和結(jié)構(gòu)的儀器,以下是關(guān)于它的一些介紹:
工作原理
主要基于 X 射線熒光光譜分析技術(shù)。當(dāng) X 射線照射到礦石樣品時,會激發(fā)樣品中元素原子的內(nèi)層電子,使其躍遷至高能級。當(dāng)這些高能級電子回落到低能級時,會釋放出具有特定能量的特征 X 射線。探測器捕獲這些特征 X 射線并將其轉(zhuǎn)換成電信號,數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)通過分析電信號,得到礦石樣品中各種元素的含量信息。
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