常見的有色金屬礦石檢測設(shè)備包括：
1. X射線熒光光譜儀：通過測量礦石中元素發(fā)射的特定X射線能譜，確定礦石中金屬元素的含量和比例。
2. 感應(yīng)耦合等離子體質(zhì)譜儀：利用等離子體產(chǎn)生的高溫和離子化的條件，對礦石樣品進行離子化和分析，以測量金屬元素的含量和比例。
3. 電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀。
有色金屬礦石分析儀A-4000可對各種礦石進行多元素分析，廣泛應(yīng)用于各類礦石的檢測和分析，還應(yīng)用于礦渣精煉分析及考古研究。礦石分析儀INNOV-X ALPHA-4000包括銅礦、鐵礦、錫礦、鋅礦、鎳礦、鉬礦、銥礦、砷礦、鉛礦、鈦礦、銻礦、釩礦、鈾礦等從磷到鈾的所有自然礦石、礦渣、巖石、泥土、泥漿。被檢測的樣品可以是固體、液體、粉塵、粉末、實心體、碎片、過濾物質(zhì)、薄膜層等有形物體。
分析儀采用了X射線管光源、多光束過濾技術(shù)、以及惠普個人數(shù)位助理技術(shù)(惠普掌 上型電腦)，從而使其采測范圍、檢測速度、檢測精度都非常出色，并具有的升級潛力。
近紅外光譜區(qū)域
由于不同的物質(zhì)含有不同的基團，不同的基團有不同的能級，不同的基團或同一基團在不同物理化學環(huán)境中對近紅外光的吸收波長都有明顯差別，且吸收系數(shù)小，發(fā)熱少，因此近紅外光譜可作為獲取信息的一種有效的載體。近紅外光照射時，頻率相同的光線和基團將發(fā)生共振現(xiàn)象，光的能量通過分子偶極矩的變化傳遞給分子；而如果近紅外光的頻率和樣品的振動頻率不相同，該頻率的紅外光就不會被吸收。因此，選用連續(xù)改變頻率的近紅外光照射某樣品時，由于試樣對不同頻率近紅外光的選擇性吸收，通過試樣反射后的近紅外光線在某些波長范圍內(nèi)會變?nèi)?，這樣紅外光線就攜帶樣品組分和結(jié)構(gòu)的信息。通過檢測器分析反射光線的光密度，就可以確定該組分的含量。
以化驗鐵礦石(鐵粉)中鐵(品位)來對比
傳統(tǒng)方法 我公司設(shè)備
滴定法 (根據(jù)顏色分辨) 光電法(固定量加入)
穩(wěn)定性差 (人為誤差率高) 穩(wěn)定性好(人為誤差率減少)
有經(jīng)驗人員操作 非人員經(jīng)過培訓都可以操作
配制試劑量多(且含有毒試劑) 配制試劑只有1個
結(jié)果要人工計算 結(jié)果直接顯示和打印出來
其他未竟事項請和我公司銷售部聯(lián)系
鐵礦石化驗設(shè)備 鐵礦石化驗儀器 鐵礦石檢測儀器
化驗鐵礦石品位的儀器 檢測鐵礦石鐵的設(shè)備
檢測范圍
品位0.1-95% 硅 0.01-0.1% 磷 0.01-0.9%
鈦 0.1-45% 鋁 0.01-5%
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