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SEM掃描江蘇第三方檢測中心

更新時間1:2025-09-17 信息編號:a62lpfijg797bf 舉報維權(quán)
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供應商 優(yōu)爾鴻信檢測技術(shù)(深圳)有限公司 店鋪
認證
報價 面議
關鍵詞 江蘇掃描電鏡測試,SEM測試,SEM掃描,EDS分析
所在地 江蘇省昆山市玉山鎮(zhèn)南淞路299號
楊先生
򈊡򈊨򈊩򈊡򈊢򈊧򈊣򈊧򈊡򈊧򈊦 448135625

4年

產(chǎn)品詳細介紹

優(yōu)爾鴻信(原富士康科技集團華南檢測中心)成立于1996年,是一家全國性、綜合性的立第三方檢測服務機構(gòu)。在深圳、昆山、武漢、鄭州、煙臺、成都、重慶等全國主要城市設有實驗室22個,主要檢測儀器4300余臺,擁有2200人的管理、技術(shù)人員團隊

SEM+EDS分析:
放大倍數(shù): 5~30萬倍
解 析 度 : 3 nm
分析元素范圍: Be(4)~U(92)
大樣品尺寸: 200 mm
分析對象: 固體樣品,金屬、塑料和電子零件.
功能與目的: 微區(qū)成分分析
失效模式/機制分析
斷口形貌觀察等

掃描電鏡(Scanning Electron Microscopy,SEM)是一種高分辨率的電子顯微鏡技術(shù),可用于對形貌和表面特征進行分析和觀察。相比于傳統(tǒng)的透射電鏡,SEM不需要樣本薄片,可以直接對樣品進行觀察,因此適用于分析各種形狀和大小的樣品。 SEM分析過程中,樣品表面被電子束轟擊后,會產(chǎn)生二次電子和背散射電子。這些電子會被探測器捕捉并轉(zhuǎn)換為電信號,形成圖像。SEM圖像具有高分辨率和高對比度,可以顯示出樣品表面的微觀結(jié)構(gòu)和形貌特征

優(yōu)爾鴻信昆山檢測中心 材料測試實驗室主要功能:
1. SEM+EDS分析
2. 3D X-RAY檢測&斷層掃描分析
3. 超聲波掃描(C-SAM)分析
4. 切片(Cross Section)分析
5. 紅墨水(Dye&Pry)分析
6. 焊點推拉力(Bonding Test)
7. 芯片開封測試(IC-Decapping)
8. 沾錫能力測試
9. 離子濃度測試
10. 表面絕緣阻抗(SIR)測試

優(yōu)爾鴻信檢測昆山檢測中心SEM+EDS分析通過CNAS認可,可執(zhí)行的測試標準GB/T17359-2012, JY/T0584-2020,JEDEC-KESD22-A121A-2008(2014)等

掃描電鏡分析(SEM+EDS)可實現(xiàn)金屬、陶瓷、半導體、聚合物、復合材料等幾乎所有固體材料的表面形貌、斷口形貌、界面形貌等顯微結(jié)構(gòu)分析,借助EDS還可進行微區(qū)元素含量分析

所屬分類:檢測服務/材料檢測

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