按照此收益計(jì)算，投資約35 萬(wàn)元，預(yù)計(jì)4 年左右可收回成本，電站壽命一般在25 年以上，維護(hù)方式簡(jiǎn)單，維護(hù)費(fèi)用低，可靠性高，可持續(xù)產(chǎn)生利潤(rùn)。

光伏組件性能的檢測(cè)
光伏電站運(yùn)行一段時(shí)間后，需要進(jìn)行檢測(cè)，來(lái)確定光伏電站的性能。涉及光伏組件的，主要包含以下項(xiàng)目。
1功率衰減測(cè)試

光伏組件運(yùn)行1年和25年后的衰減率到底有多少？25年太久，現(xiàn)在可能還沒(méi)有運(yùn)行這么長(zhǎng)時(shí)間的電站。按國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)，晶硅電池2年的衰減率應(yīng)該在3.2%以內(nèi)。但目前這個(gè)數(shù)據(jù)還真的很難說(shuō)，原因有三：
1）光伏組件出場(chǎng)功率是用實(shí)驗(yàn)室標(biāo)準(zhǔn)光源和測(cè)試環(huán)境標(biāo)定的，但似乎國(guó)內(nèi)不同廠家的標(biāo)準(zhǔn)光源是存在一定的差異的。那在A廠標(biāo)定的250W的組件，到了B廠，可能就是245W的組件的。
2）現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)所用的儀器度較差，據(jù)說(shuō)5%以內(nèi)的誤差都是可以接受的。用誤差5%的儀器，測(cè)2%（1年）的衰減，難度有些大，結(jié)果也令人懷疑。
3）現(xiàn)場(chǎng)的測(cè)試條件跟實(shí)驗(yàn)室的相差較大，正好在1000W/m2、25℃的時(shí)間太少了！所以，就需要進(jìn)行一個(gè)測(cè)試值向標(biāo)準(zhǔn)值的轉(zhuǎn)化，而輸出功率與輻照度僅在一個(gè)很小的區(qū)間內(nèi)正相關(guān)。如圖2所示，即使在800W/m2時(shí)，也不是正相關(guān)的。因此，在轉(zhuǎn)化的時(shí)候，肯定存在誤差。
另外，很多組件出場(chǎng)可能就是-3%的功率偏差，還沒(méi)衰減，3%就直接沒(méi)了……
2EL測(cè)試

當(dāng)光伏組件出現(xiàn)問(wèn)題時(shí)，局部電阻升高，該區(qū)域溫度就會(huì)升高。EL測(cè)試儀就像我們體檢中的X光機(jī)一樣，可以對(duì)光伏組件進(jìn)行體檢——通過(guò)紅外圖像拍攝，根據(jù)溫度不同，圖像呈現(xiàn)不同的顏色，從而非常容易的發(fā)現(xiàn)光伏組件的很多問(wèn)題：隱裂、熱斑、PID效應(yīng)等。
光伏組件在運(yùn)輸、搬運(yùn)、安裝等過(guò)程中，容易被踩踏、撞擊，導(dǎo)致組件產(chǎn)生不易察覺(jué)的隱裂，影響組件輸出功率。用EL變可以檢測(cè)出來(lái)，如下圖。
下圖為熱斑現(xiàn)象的紅外照片（圖片來(lái)自于TUV-Rheinland），紅點(diǎn)部分為產(chǎn)生熱斑處。
下圖為PID效應(yīng)的紅外照片， PID效應(yīng)嚴(yán)重的電池片發(fā)黑。
除了上述檢測(cè)外，對(duì)組件的外觀檢查也非常重要。如組件背板劃痕、變黃、鼓泡，連接器脫落等。

近幾年，晶硅組件廠家為了降低成本，晶硅電池片一直向越來(lái)越薄的方向發(fā)展，從而降低了電池片防止機(jī)械破壞的能力。
2011年，德國(guó)ISFH公布了他們的研究結(jié)果：根據(jù)電池片隱裂的形狀，可分為5類：樹(shù)狀裂紋、綜合型裂紋、斜裂紋、平行于主柵線、垂直于柵線和貫穿整個(gè)電池片的裂紋。
隱裂，對(duì)電池片功能造成的影響是不一樣的。對(duì)電池片功能影響的，是平行于主柵線的隱裂（第4類）。根據(jù)研究結(jié)果，50%的失效片來(lái)自于平行于主柵線的隱裂。45°傾斜裂紋（第3類）的效率損失是平行于主柵線損失的1/4。垂直于主柵線的裂紋（第5類）幾乎不影響細(xì)柵線，因此造成電池片失效的面積幾乎為零。
有研究結(jié)果顯示，組件中某單個(gè)電池片的失效面積在8%以內(nèi)時(shí)，對(duì)組件的功率影響不大，組件中2/3的斜條紋對(duì)組件的功率穩(wěn)定沒(méi)有影響。

電池片原因：電池片方塊電阻的均勻性、減反射層的厚度和折射率等對(duì)PID性能都有著不同的影響。
上述引起PID現(xiàn)象的三方面中，由在光伏系統(tǒng)中的組件邊框與組件內(nèi)部的電勢(shì)差而引起的組件PID現(xiàn)象被行業(yè)所公認(rèn)，但在組件和電池片兩個(gè)方面組件產(chǎn)生PID現(xiàn)象的機(jī)理尚不明確，相應(yīng)的進(jìn)一步提升組件的抗PID性能的措施仍不清楚。
3電池片隱裂

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