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芯片金屬封裝,單晶硅切片膠

更新時間1:2025-09-30 信息編號:2c20kneet9c528 舉報維權(quán)
供應(yīng)商 北京汐源科技有限公司 店鋪
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關(guān)鍵詞 湖北硅晶碇切片膠,漢高膠水 ,MEMS灌封膠,晶圓臨時鍵合減薄
所在地 北京建國路15號院
徐發(fā)杰
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9年

產(chǎn)品詳細(xì)介紹

TSV 互連具有縮短路徑和更薄的封裝尺?等優(yōu)點,被認(rèn)為是三維集成的核
術(shù)。 TSV 結(jié)構(gòu)如下圖所示,在硅板上面有加?完成的通孔;在通孔內(nèi)由內(nèi)到外
依次為電鍍銅柱、絕緣層和阻擋層。絕緣層的作用是將硅板和填充的導(dǎo)電 材料
之間進(jìn)?隔離絕緣,材料通常選用?氧化硅。由于銅原?在 TSV 制 造?藝流
程中可能會穿透?氧化硅絕緣層,導(dǎo)致封裝器件產(chǎn)品性能的下降 甚?失效,?
般用化學(xué)穩(wěn)定性較?的?屬材料在電鍍銅和絕緣層之間加? 阻擋層。后是用
于信號導(dǎo)通的電鍍銅。
前30 min頂部沉積速率的異常下降是由于預(yù)處理后時間過
長造成的。在電化學(xué)反應(yīng)之前銅離?和添加劑分?的充分?jǐn)U
散導(dǎo)致在初始階段相對較快的沉積。隨著反應(yīng)的進(jìn)?,電解
液中的銅離?從陰極接受電?并不斷轉(zhuǎn)化為銅。隨著縱橫比
的增加,銅離?向底部的擴(kuò)散速率降低。銅離?的傳質(zhì)限制
降低了沉積到底部的速率。同時,銅離?在頂部的積累提?
了沉積速率。逐漸地,頂部的電沉積速率超過底部的電沉積
速率,終導(dǎo)致接縫缺陷。
電鍍銅填充設(shè)備
很多成本模型顯示,TSV填充?藝是整個?藝流程中昂貴的步驟之?。 TSV
的主要成品率損耗之?是未填滿的空洞。電鍍銅?藝作為合適的硅 通孔填充
技術(shù)受到業(yè)內(nèi)的普遍關(guān)注,其關(guān)鍵技術(shù)在于TSV?深寬比(通常 ?于10:1)通孔的
全填充電鍍技術(shù)。

所屬分類:電子產(chǎn)品制造設(shè)備/蝕刻機(jī)

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