快,1秒鐘出結(jié)果
1、采用行業(yè)的速探測(cè)器技術(shù)——（SDD）分辨率低至125eV
優(yōu)勢(shì)：探測(cè)面積大（面積達(dá)25m㎡）、單位時(shí)間內(nèi)接受信息多、計(jì)數(shù)率高分辨率好
對(duì)貴金屬的探測(cè)效率更高，探測(cè)信噪比更強(qiáng)，檢出限更低
2、采用行業(yè)的數(shù)字多道技術(shù)
優(yōu)勢(shì)：有效提高輸出效率，實(shí)現(xiàn)計(jì)數(shù)率，采集有效計(jì)數(shù)率超過(guò)600KCPS
3、采用大功率X光管及的準(zhǔn)直濾光系統(tǒng)
優(yōu)勢(shì)：使貴金屬的激發(fā)效率更高
4、光閘系統(tǒng)
優(yōu)勢(shì)：樣品更換無(wú)需關(guān)閉高壓，提高測(cè)試效率與測(cè)試精度

人性化的設(shè)計(jì)
更安全：X射線(xiàn)聯(lián)動(dòng)安全裝置----光閘與聯(lián)動(dòng)裝置互動(dòng)；儀器外殼與高壓使能端相聯(lián)動(dòng)
更快捷：多點(diǎn)測(cè)試，點(diǎn)哪測(cè)哪
預(yù)約預(yù)熱：根據(jù)設(shè)定時(shí)間，儀器可定時(shí)開(kāi)始測(cè)試
預(yù)約開(kāi)機(jī)預(yù)熱功能：客戶(hù)可預(yù)約儀器開(kāi)機(jī)時(shí)間，同時(shí)可以?xún)x器預(yù)熱并自動(dòng)檢測(cè)、校正儀器狀態(tài)；同時(shí)可以實(shí)現(xiàn)預(yù)約關(guān)機(jī)，關(guān)機(jī)前可設(shè)定聲光提示

X熒光光譜儀是利用XRF技術(shù)解決國(guó)內(nèi)水泥廠(chǎng)、鋼鐵公司對(duì)復(fù)雜成份、多類(lèi)型櫚中元素的快速、準(zhǔn)確分析。該技術(shù)的主要特征為：利用低能X光激發(fā)待測(cè)元素，對(duì)Si、S、AI、Na、Mg等輕元素有良好的激發(fā)效果，并且測(cè)試時(shí)間短，大大提高了檢測(cè)效率和工作效率； 采用UHRD探測(cè)器，具有良好的能量線(xiàn)性和能量分辨率，及良好的能譜特性，較高的峰背比； 采用自動(dòng)穩(wěn)譜裝置，了儀器工作的一致性； 利用解譜技術(shù)使譜峰分解，使采用UHRD探測(cè)器的分析儀對(duì)Si、S、AI等輕元素的測(cè)試具有和的分析精度；采用相似自動(dòng)分類(lèi)技術(shù)使分類(lèi)更準(zhǔn)確，有效地克服基效應(yīng)對(duì)測(cè)量帶來(lái)的影響；采用多參數(shù)的線(xiàn)性回歸方法，使元素間的吸收、增強(qiáng)效應(yīng)得到明顯的消除。

X熒光光譜儀具有元素快速分析的功能，它可萃取玩具中重金屬含量測(cè)試（鉛、鎘、鉻、、銻、鋇、、硒等）、包裝物料的有元素測(cè)試、EN71，測(cè)試結(jié)果度高。X熒光光譜儀的檢測(cè)結(jié)果可以和化學(xué)檢測(cè)媲美，還大大節(jié)省儀器購(gòu)置成本、使用成本和檢測(cè)時(shí)間成本。目前X熒光光譜儀已成為企業(yè)倡導(dǎo)綠色生產(chǎn)過(guò)程中的檢測(cè)工具。

x熒光光譜儀樣品種類(lèi)樣品狀態(tài)一般有固體塊狀樣品、粉末樣品和液體樣品等。
（1）固體塊狀樣品包括黑色金屬、有色金屬、電鍍板、硅片、塑料制品及橡膠制品等，其中金屬材料占了很大的比例。
（2）粉末樣品包括各種礦產(chǎn)品，水泥及其原材料，金屬冶煉的原材料和副產(chǎn)品如鐵礦石、煤、爐渣等；還有巖石土壤等。
（3）液體樣品油類(lèi)產(chǎn)品、水質(zhì)樣品以及通過(guò)化學(xué)方法將固體轉(zhuǎn)換成的溶液等

X熒光光譜儀粉末樣品誤差主要來(lái)源：
（1） 粒度效應(yīng) 粉末樣品粒度效應(yīng)是指被測(cè)量樣品中的分析元素的熒光強(qiáng)度變化和樣品的粒度變化有關(guān)。一般來(lái)說(shuō)，被分析樣品的粒度越小，熒光強(qiáng)度越高，輕元素尤甚。原子序數(shù)越小，對(duì)粒度越敏感；同一元素粒度越小，制樣穩(wěn)定性越好。一般要求粒度小于200 目。
（2） 偏析 偏析是指組分元素在樣品中分布的差異。偏析有兩種：粒間偏析：粉末顆粒A 和B 之間混合不均勻；元素偏析：元素分布對(duì)粒度分布的非勻質(zhì)性。如果在采用充分多步混合或微粉碎情況下仍不能解決，可用其它制樣手段，如熔融，溶解等。
（3）礦物效應(yīng) 由于礦物的化學(xué)結(jié)構(gòu)或微觀(guān)晶體形態(tài)不同，含量相同的同一元素在不同的礦物中，它們的熒光強(qiáng)度會(huì)有很大的差異。所謂的礦物效應(yīng)不單是針對(duì)礦物，在粉末樣品的X 熒光光譜儀分析中有著更廣泛的含義。

將Ｘ射線(xiàn)熒光分析(XRF)用于巖屑錄井這項(xiàng)技術(shù)的到之處在于：通過(guò)巖屑化學(xué)元素組合特征的分析來(lái)識(shí)別巖性，再通過(guò)巖性的組合特征分析來(lái)判斷層位，因此適合于任何鉆井條件下的巖屑錄井。
真空形成條件及高靈敏半導(dǎo)體探測(cè)器保障對(duì)巖心中的元素具有的檢出限，為錄井平臺(tái)提供更有意義的具體數(shù)據(jù)特征；更寬的元素檢出范圍滿(mǎn)足多種元素的同時(shí)檢測(cè)需求；同時(shí)引入了目前的4096道數(shù)字多道技術(shù)，采用進(jìn)口超薄鈹窗有高激發(fā)效率的X射線(xiàn)管，使儀器計(jì)數(shù)率更高，穩(wěn)定性更好，適用面更廣；
優(yōu)化了光路結(jié)構(gòu)、軟硬件可靠性，真空腔體使之性能更好、更便攜；
特的抗震性設(shè)計(jì)，高保護(hù)光路設(shè)計(jì)使得該儀器通過(guò)了第三方機(jī)構(gòu)高低溫、高低頻電動(dòng)振動(dòng)及濕熱等使用認(rèn)證；
在現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試、在線(xiàn)檢測(cè)以及各類(lèi)地質(zhì)勘察多元素檢測(cè)中充分發(fā)揮作用。

引起樣品誤差的原因：
（1）樣品物理狀態(tài)不同，樣品的顆粒度、密度、光潔度不一樣；樣品的沾污、吸潮，液體樣品的受熱膨脹，揮發(fā)、起泡、結(jié)晶及沉淀等。
（2）樣品的組分分布不均勻 樣品組分的偏析、礦物效應(yīng)等。
（3）樣品的組成不一致 引起吸收、增強(qiáng)效應(yīng)的差異造成的誤差
（4）被測(cè)元素化學(xué)結(jié)合態(tài)的改變 樣品氧化，引起元素百分組成的改變；輕元素化學(xué)價(jià)態(tài)不同時(shí)，譜峰發(fā)生位移或峰形發(fā)生變化引起的誤差。
（5）制樣操作 在制樣過(guò)程中的稱(chēng)量造成的誤差，稀釋比不一致，樣品熔融不完全，樣品粉碎混合不均勻，用于合成校準(zhǔn)或基準(zhǔn)試劑的純度不夠等。
3、樣品種類(lèi)樣品狀態(tài)一般有固體塊狀樣品、粉末樣品和液體樣品等。
（1）固體塊狀樣品 包括黑色金屬、有色金屬、電鍍板、硅片、塑料制品及橡膠制品等，其中金屬材料占了很大的比例。
（2）粉末樣品 包括各種礦產(chǎn)品，水泥及其原材料，金屬冶煉的原材料和副產(chǎn)品如鐵礦石、煤、爐渣等；還有巖石土壤等。
（3）液體樣品 油類(lèi)產(chǎn)品、水質(zhì)樣品以及通過(guò)化學(xué)方法將固體轉(zhuǎn)換成的溶液等。

X熒光光譜儀分析法中不同樣品有不同的制樣方法。金屬樣品如果大小形狀合適，或者經(jīng)過(guò)簡(jiǎn)單的切割達(dá)到X 熒光光譜儀分析的要求，只需表面拋光，液體樣品可以直接分析，大氣塵埃通常收集在濾膜上直接進(jìn)行分析。而粉末樣品的制樣方法就比較復(fù)雜。這里只對(duì)常見(jiàn)的固體和粉末樣品的制樣方法進(jìn)行討論，液體樣品就不再討論。
1、固體樣品的主要缺點(diǎn)是，一般情況下不能采用各種添加法：如標(biāo)準(zhǔn)添加（或稀釋?zhuān)┓?、低（或高）吸收稀釋法、?nèi)標(biāo)法等。若所有樣品中已經(jīng)含有適當(dāng)?shù)?、一定濃度的?nèi)標(biāo)元素，則上述的后兩種方法還是可用的。另外，也不能進(jìn)行化學(xué)濃縮和分離。表面結(jié)構(gòu)和成分有時(shí)也難取得一致?？赡芘坏浆F(xiàn)成的標(biāo)樣，而人工合成又很困難。
2、制樣方法，固體樣品可用未加工的或經(jīng)加工的大塊材料或原材料（如生鐵，鋼錠等）制取。另外，也可把熔爐的熔融物直接澆鑄到小模子里。為防止緩慢冷卻時(shí)發(fā)生的成分偏析，好用激冷。經(jīng)拋光的原材料，或經(jīng)砂輪磨打的表面，一般是令人滿(mǎn)意的，但對(duì)后者仍需進(jìn)一步拋光，以減少表面粗糙度，并除去加工損傷的和沒(méi)有代表性的表面層。拋光的方法有許多種，包括：
（1）行帶式磨削，然后用拋光器拋光，其砂紙粒度依次由粗變細(xì)
（2）用車(chē)床、銑床或刨床進(jìn)行加工。對(duì)于薄板和箔，仔細(xì)操作，以表面不出現(xiàn)翹曲、和折痕。特別要注意不能照射時(shí)間太長(zhǎng)，以免受熱變形。薄板和箔襯上一塊剛性支撐物，或把它們粘在一起。
制備固體樣品時(shí)要注意：
（1） 樣品的分析面不能有氣孔，析出物和多孔質(zhì)現(xiàn)象。
（2） 防止偏析。造成偏析的因素：合金的組成和密度；鑄模的材料、形狀和厚度；合金熔化溫度、澆鑄溫度和被澆鑄樣品的冷卻速度等。

• 

  XRF分析儀天瑞儀器廠(chǎng)家銅合金分析儀

  面議

  產(chǎn)品名：銅合金分析儀,XRF分析儀,XRF檢測(cè)儀,XRF測(cè)試儀,XRF儀器,XRF光譜儀

• 

  天瑞光譜儀手持礦石分析儀生產(chǎn)廠(chǎng)家

  面議

  產(chǎn)品名：手持式光譜分析儀

• 

  天瑞rohs儀器,天瑞儀器x熒光xrf

  面議

  產(chǎn)品名：xrf測(cè)試儀,XRF測(cè)試儀,rohs儀器

• 

  手持式X射線(xiàn)熒光土壤重金屬檢測(cè)儀

  面議

  產(chǎn)品名：手持式XRF分析儀,手持式X熒光分析儀,便攜式X射線(xiàn)光譜儀,土壤重金屬分析儀

• 

  礦石元素分析儀天瑞儀器廠(chǎng)家X熒光分析儀

  面議

  產(chǎn)品名：機(jī)械臂自動(dòng)測(cè)試X熒光光譜儀,XRF分析儀,機(jī)械臂自動(dòng)測(cè)試,自動(dòng)進(jìn)樣快速分析儀,天瑞儀器廠(chǎng)家,EDX4500A

• 

  鋰礦石分析儀器XRF分析儀X射線(xiàn)熒光光譜分析儀

  面議

  產(chǎn)品名：機(jī)械臂自動(dòng)測(cè)試X熒光光譜儀,XRF分析儀,機(jī)械臂自動(dòng)測(cè)試,自動(dòng)進(jìn)樣快速分析儀,天瑞儀器廠(chǎng)家,EDX4500A

• 

  EDX4500A礦石分析儀分析

  面議

  產(chǎn)品名：機(jī)械臂自動(dòng)測(cè)試X熒光光譜儀,XRF分析儀,機(jī)械臂自動(dòng)測(cè)試,自動(dòng)進(jìn)樣快速分析儀,天瑞儀器廠(chǎng)家,EDX4500A

• 

  鋰礦礦石分析儀EDX4500AX射線(xiàn)熒光光譜分析儀

  面議

  產(chǎn)品名：機(jī)械臂自動(dòng)測(cè)試X熒光光譜儀,XRF分析儀,機(jī)械臂自動(dòng)測(cè)試,自動(dòng)進(jìn)樣快速分析儀,天瑞儀器廠(chǎng)家,EDX4500A