AT-01在線測(cè)試儀 邊緣掃描測(cè)試 測(cè)試基板的*新技術(shù)標(biāo)準(zhǔn) IEEE Standard 1149.1Flash記憶棒安裝在PCB的狀態(tài)下利用JTAG(Boundary-Scan 1149.1)測(cè)試對(duì)IC進(jìn)行短路檢查，PCB光板測(cè)試等基本項(xiàng)目與IC內(nèi)部程序測(cè)試。 AT-01在線測(cè)試儀

ICT（In-Circuit Test System），中文慣用名為在線測(cè)試儀（本手冊(cè)特指組裝電路板在線測(cè)試儀），主要用于組裝電路板（PCBA）的測(cè)試。這里的“在線”是“In-Circuit”的直譯，主要指電子元器件在線路上（或者說在電路上）。在線測(cè)試是一種不斷開電路，不拆下元器件管腳的測(cè)試技術(shù)，“在線”反映了ICT重在通過對(duì)在線路上的元器件或開短路狀態(tài)的測(cè)試來檢測(cè)電路板的組裝問題。

主要測(cè)試電路板的開短路、電阻、電容、電感、二極管、三極管、電晶體、IC等元件！ 早期，業(yè)內(nèi)將ATE設(shè)備也歸在ICT這一類別中，但因ATE測(cè)試相 基本上所在的大型電路生產(chǎn)商都要用到ICT測(cè)試，象ASUS、DELL、IBM、INTEL、BENQ、MSI、HP等！

全球大型ICT測(cè)試設(shè)備生產(chǎn)廠商主要有安捷倫(美國(guó))，泰瑞達(dá)(美國(guó))、德智（DEZHI)、JET(捷智）、Tr(德利泰)、SRC星河等等品牌。不同品牌ICT的測(cè)試原理相同或相似。上世紀(jì)80年代前后，日本將美國(guó)同類產(chǎn)品加以簡(jiǎn)化和小型化，并改成使用氣動(dòng)壓床式，代表的有日本TESCON，OKANO，使得ICT簡(jiǎn)單易用并低成本，使之成為電子廠不可或缺的檢測(cè)設(shè)備，并迅速推廣普及。

ICT使用范圍廣，測(cè)量準(zhǔn)確性高，對(duì)檢測(cè)出的問題指示明確，是一種標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試手段，即使電子技術(shù)水準(zhǔn)一般的工人處理有問題的PCBA也非常容易。使用ICT能地提高生產(chǎn)效率，降低生產(chǎn)成本。

ICT Test 主要是通過測(cè)試探針接觸PCB layout出來的測(cè)試點(diǎn)來檢測(cè)PCBA的線路開路、短路、所有零件的焊接情況,可分為開路測(cè)試、短路測(cè)試、電阻測(cè)試、電容測(cè)試、二極管測(cè)試、三極管測(cè)試、場(chǎng)效應(yīng)管測(cè)試、IC管腳測(cè)試(testjet` connect check BasicScan Bist)等其它通用和特殊元器件的漏裝、錯(cuò)裝、參數(shù)值偏差、焊點(diǎn)連焊、線路板開短路等故障，并將故障是哪個(gè)組件或開短路位于哪個(gè)點(diǎn)通過打印機(jī)或屏幕顯示準(zhǔn)確告訴用戶。

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