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美國(guó)舊掃描電鏡儀器進(jìn)口報(bào)關(guān)公司 24H咨詢(xún)熱線：17688682776 李先生 偉順進(jìn)出口致力于創(chuàng)新和開(kāi)發(fā)國(guó)際海運(yùn)、國(guó)際多式聯(lián)運(yùn)運(yùn)輸、境外工程項(xiàng)目門(mén)到門(mén)、倉(cāng)儲(chǔ)、報(bào)關(guān)、監(jiān)裝、監(jiān)卸、中轉(zhuǎn)、08月08日 -
200.00元廣州掃描電鏡 :掃描電鏡觀察 技術(shù)參數(shù)： 基本規(guī)格 蔡司 GeminiSEM 300 熱場(chǎng)發(fā)射電子槍?zhuān)€(wěn)定性?xún)?yōu)于0.2 %/h 加速電壓 0.02 - 30 kV 探針電流 3 pA - 20..10月05日
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掃描電鏡在生物醫(yī)學(xué)領(lǐng)域有廣泛的應(yīng)用，主要應(yīng)用于細(xì)胞或組織樣本表面超微結(jié)構(gòu)的觀察分析，例如細(xì)胞表面結(jié)構(gòu)，氣管，腸道，皮膚、納米藥物、生物醫(yī)學(xué)材料、細(xì)菌、真菌等。掃描電鏡的焦深比透射..10月05日
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優(yōu)爾鴻信(原富士康科技集團(tuán)華南檢測(cè)中心)成立于1996年，是一家全國(guó)性、綜合性的獨(dú)立第三方檢測(cè)服務(wù)機(jī)構(gòu)。在深圳、昆山、武漢、鄭州、煙臺(tái)、成都、重慶等全國(guó)主要城市設(shè)有專(zhuān)業(yè)實(shí)驗(yàn)室22個(gè)，主要..10月05日
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優(yōu)爾鴻信(原富士康科技集團(tuán)華南檢測(cè)中心)成立于1996年，是一家全國(guó)性、綜合性的獨(dú)立第三方檢測(cè)服務(wù)機(jī)構(gòu)。在深圳、昆山、武漢、鄭州、煙臺(tái)、成都、重慶等全國(guó)主要城市設(shè)有專(zhuān)業(yè)實(shí)驗(yàn)室22個(gè)，主要..10月05日
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優(yōu)爾鴻信檢測(cè)技術(shù)昆山檢測(cè)中心 SEM+EDS分析測(cè)試范圍 1.IMC檢查（IMC Inspection） 2.錫須觀察（Tin Whisker Inspection） 3.元素分析（Element Analysis） 4.金屬顆粒觀察（Observation of me..10月05日
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優(yōu)爾鴻信(原富士康科技集團(tuán)華南檢測(cè)中心)成立于1996年，是一家全國(guó)性、綜合性的獨(dú)立第三方檢測(cè)服務(wù)機(jī)構(gòu)。在深圳、昆山、武漢、鄭州、煙臺(tái)、成都、重慶等全國(guó)主要城市設(shè)有專(zhuān)業(yè)實(shí)驗(yàn)室22個(gè)，主要..10月05日
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SEM+EDS分析： 放大倍數(shù): 5~30萬(wàn)倍 解 析 度 : 3 nm 分析元素范圍: Be(4)~U(92) 最大樣品尺寸: 200 mm 分析對(duì)象: 固體樣品,金屬、塑料和電子零件. 功能與目的： 微區(qū)成分分..10月05日
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優(yōu)爾鴻信昆山檢測(cè)中心專(zhuān)業(yè)第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)，具備完整的檢測(cè)能力及CNAS資質(zhì)，能及時(shí)有效的提供檢測(cè)服務(wù) 包含：環(huán)境可靠性測(cè)試、機(jī)械可靠性測(cè)試、尺寸量測(cè)、材料機(jī)械性能測(cè)試、化學(xué)成分分析、清..10月05日
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優(yōu)爾鴻信檢測(cè)昆山檢測(cè)中心SEM+EDS分析通過(guò)CNAS認(rèn)可，可執(zhí)行的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)GB/T17359-2012, JY/T0584-2020,JEDEC-KESD22-A121A-2008(2014)等場(chǎng)掃描電鏡對(duì)樣品要求，如下： 1.樣品要盡可能干燥，若..10月05日
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SEM+EDS分析： 放大倍數(shù): 5~30萬(wàn)倍 解 析 度 : 3 nm 分析元素范圍: Be(4)~U(92) 最大樣品尺寸: 200 mm 分析對(duì)象: 固體樣品,金屬、塑料和電子零件. 功能與目的： 微區(qū)成分分..10月05日
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SEM+EDS分析： 放大倍數(shù): 5~30萬(wàn)倍 解 析 度 : 3 nm 分析元素范圍: Be(4)~U(92) 最大樣品尺寸: 200 mm 分析對(duì)象: 固體樣品,金屬、塑料和電子零件. 功能與目的： 微區(qū)成分分..10月05日
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優(yōu)爾鴻信檢測(cè)技術(shù)昆山檢測(cè)中心 SEM+EDS分析測(cè)試范圍 1.IMC檢查（IMC Inspection） 2.錫須觀察（Tin Whisker Inspection） 3.元素分析（Element Analysis） 4.金屬顆粒觀察（Observation of me..10月05日
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掃描電鏡（Scanning Electron Microscopy，SEM）是一種高分辨率的電子顯微鏡技術(shù)，可用于對(duì)形貌和表面特征進(jìn)行分析和觀察。相比于傳統(tǒng)的透射電鏡，SEM不需要樣本薄片，可以直接對(duì)樣品進(jìn)行觀察..10月05日
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面議優(yōu)爾鴻信昆山檢測(cè)中心專(zhuān)業(yè)第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)，具備完整的檢測(cè)能力及CNAS資質(zhì)，能及時(shí)有效的提供檢測(cè)服務(wù) 包含：環(huán)境可靠性測(cè)試、機(jī)械可靠性測(cè)試、尺寸量測(cè)、材料機(jī)械性能測(cè)試、化學(xué)成分分析、清..10月05日
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