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PID（PotentianInducedDegradation）是一種電勢(shì)誘導(dǎo)衰減現(xiàn)象，是指組件長期在高電壓下使得玻璃，封裝材料之間存在漏電流，大量電荷聚集在電池表面。使得電池表面的鈍化效果惡化，導(dǎo)致填充因子（FF），短路電流（Isc），開路電壓（Voc）降低，使得組件的性能低于設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)，發(fā)電能力也隨之下降。2010年，NREL和Solon證實(shí)了無論組件采取何種技術(shù)的P型晶硅電池，組件在負(fù)偏壓下都有PID的風(fēng)險(xiǎn)。
