產(chǎn)品特色
電腦自動(dòng)學(xué)習(xí)并自動(dòng)產(chǎn)生，開/短路、Pin Information及IC保護(hù)二極體之測(cè)試程式　
可網(wǎng)路連線，并結(jié)合資料庫管理及測(cè)試站監(jiān)控程式
Board View功能可即時(shí)顯示不良元件、針點(diǎn)之位置，方便檢修
大型主機(jī)設(shè)計(jì)，高密度SwitchingBoard，高可達(dá)3584測(cè)試點(diǎn)
應(yīng)用IC Clamping Diode技術(shù)，可輔助檢測(cè) BGA 開路空焊問題。
二手TR-5001E 值得選擇；ICT58

5001E滿足電子產(chǎn)業(yè)中各類產(chǎn)品對(duì)測(cè)試環(huán)境不同之要求，所推出之全系列產(chǎn)品之一。其切換電路板乃應(yīng)用且高壽命之機(jī)械式Reed Relay，適用模擬產(chǎn)品及高壓電流之檢測(cè)，并可整合動(dòng)態(tài)量測(cè) 。而高密度之設(shè)計(jì)及軟件技術(shù)，使TR518FR之測(cè)點(diǎn)可高達(dá)2560測(cè)試點(diǎn)，其速度亦較傳統(tǒng)的ICT快80%以上。
5001E在線測(cè)試儀規(guī)格參數(shù)
測(cè)試點(diǎn)數(shù) 標(biāo)準(zhǔn)配備:256點(diǎn),可以每片開關(guān)板64點(diǎn)或128點(diǎn)擴(kuò)充至1792點(diǎn)
測(cè)試步驟 步驟: 12288步驟,可依需求擴(kuò)充
測(cè)試時(shí)間 開路/短路測(cè)試:每1000點(diǎn)約1.5Sec(Typical DUT)
元件測(cè)試:每一元件約0.8mSec至30mSec(Typical DUT)
測(cè)試范圍 電阻:0.1Ω至40MΩ電晶體: ±5V
電容:1.0PF至40mF Zener二極體: 標(biāo)準(zhǔn)配備,0.1V至48V

TR518FR是德律科技為滿足電子產(chǎn)業(yè)中各類產(chǎn)品對(duì)測(cè)試環(huán)境不同之要求，所推出之全系列產(chǎn)品之一。其切換電路板乃應(yīng)用且高壽命之機(jī)械式Reed Relay，適用模擬產(chǎn)品及高壓電流之檢測(cè)，并可整合動(dòng)態(tài)量測(cè) 。而高密度之設(shè)計(jì)及軟件技術(shù)，使TR518FR之測(cè)點(diǎn)可高達(dá)2560測(cè)試點(diǎn)，其速度亦較傳統(tǒng)的ICT快80%以上。