礦石光譜儀通常由光源、光柵、檢測(cè)器和數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)組成。光源發(fā)出特定波長(zhǎng)的光束，經(jīng)過光柵的分光作用，將光束分成不同波長(zhǎng)的光線。這些光線經(jīng)過礦石樣品后，部分被吸收、反射或透射。檢測(cè)器會(huì)測(cè)量礦石樣品在不同波長(zhǎng)下的光強(qiáng)度，并將數(shù)據(jù)傳輸給數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)。

產(chǎn)品特點(diǎn)
1.小型化、、高速度、易操作，高靈敏度、分析
2.可同時(shí)分析40種元素
3.采用多準(zhǔn)直器多濾光片和扣背景技術(shù)
4. Peltier電制冷 FAST SDD硅漂移檢測(cè)器提供出色的短期重復(fù)性和長(zhǎng)期再現(xiàn)性以及出色的元素峰分辨率
5.記數(shù)數(shù)字多道電路設(shè)計(jì)，雙真空抽速機(jī)構(gòu)，真空度自動(dòng)穩(wěn)定系統(tǒng)
6.標(biāo)配基本參數(shù)法軟件，多任務(wù)，多窗口操作
7.薄膜濾光片技術(shù)，有效提高輕元素檢出限

全新設(shè)計(jì)的XTEST分析軟件 軟件內(nèi)核包括基本參數(shù)法（FP），經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法（EC）,可輕松分析各類樣品。 光譜處理參數(shù)包括用于定義背景連續(xù)性，堆積峰和峰總和，平滑度以及測(cè)量到的峰背景光譜的數(shù)量 對(duì)吸收以及厚膜和薄膜二次熒光的完全校正，即所有基質(zhì)效應(yīng)，增強(qiáng)和吸收。
譜顯示：峰定性，KLM標(biāo)記，譜重疊比較，可同時(shí)顯示多個(gè)光譜圖 可以通過積分峰的凈面積或使用測(cè)得的參考光峰響應(yīng)，將光峰強(qiáng)度建模為高斯函數(shù)。 可以使用純基本參數(shù)方法，具有分散比的基本參數(shù)（對(duì)于包含大量低Z材料的樣品）或通過簡(jiǎn)單的小二乘擬合進(jìn)行定量分析。 基本參數(shù)分析可以基于單個(gè)多元素標(biāo)準(zhǔn)，多個(gè)標(biāo)準(zhǔn)或沒有標(biāo)準(zhǔn)的樣品。

礦石光譜分析儀能夠快速、準(zhǔn)確地分析礦石中的各種元素和化合物，幫助礦石開采和加工企業(yè)更好地了解礦石的成分和特性。它們可以在礦山現(xiàn)場(chǎng)或?qū)嶒?yàn)室中使用，提供實(shí)時(shí)的結(jié)果，幫助企業(yè)做出決策。

鐵礦石光譜儀是一種用于分析鐵礦石樣品中的化學(xué)成分和礦物組成的儀器。它通過測(cè)量鐵礦石樣品在不同波長(zhǎng)的電磁輻射下的吸收或發(fā)射光譜，來確定樣品中的元素和礦物組成。

鐵礦石光譜儀通常采用光柵光譜儀或干涉光譜儀的原理。樣品通過樣品室或探頭被照射光源照射，樣品會(huì)吸收特定波長(zhǎng)的光，而其他波長(zhǎng)的光則被反射或透射。這些吸收、反射或透射光會(huì)被光譜儀接收并分析。