半導體測試探針的主要應用領(lǐng)域包括芯片設(shè)計驗證、晶圓測試和半導體成品測試。它起著連接芯片/晶圓與測試設(shè)備，并進行信號傳輸?shù)暮诵淖饔茫瑢τ诎雽w產(chǎn)品的質(zhì)量控制具有重要意義。

探針的要求

（1）質(zhì)量問題：在使用過程中應定期進行質(zhì)量檢查。探針的質(zhì)量差會導致測量誤差增大，嚴重時可能會損壞實驗設(shè)備。

（2）加工工藝問題：在探針的制作過程中，要探針的形狀、尺寸的與穩(wěn)定。

（3）使用注意事項：避免在測量過程中引入空氣，勿使用有陷進、連續(xù)的探針以免擾動測量，對于使用多個探針進行測量的情況要確保探針之間的長度和間距足夠。

（4）存儲和保養(yǎng)問題：盡可能地存儲環(huán)境無除塵、避光性好；探針表面不能有刮傷等損壞，使用前應清洗干凈且消毒處理。

隨著自然資源的日益枯竭和環(huán)境保護意識的增強，金屬回收行業(yè)逐漸成為一種重要的經(jīng)濟產(chǎn)業(yè)。金屬回收不僅能減少資源浪費和環(huán)境污染，還可以提供再利用的原材料，降低生產(chǎn)成本。在金屬回收市場中，鍍金探針作為含金屬成分較高的物品，備受關(guān)注