半導(dǎo)體測(cè)試探針的主要應(yīng)用領(lǐng)域包括芯片設(shè)計(jì)驗(yàn)證、晶圓測(cè)試和半導(dǎo)體成品測(cè)試。它起著連接芯片/晶圓與測(cè)試設(shè)備，并進(jìn)行信號(hào)傳輸?shù)暮诵淖饔?，?duì)于半導(dǎo)體產(chǎn)品的質(zhì)量控制具有重要意義。

探針一般由精密儀器鉚接預(yù)壓后形成，針頭、針尾、彈簧、外管四個(gè)基本部件。

由于半導(dǎo)體產(chǎn)品體積小，特別是芯片產(chǎn)品尺寸非常小，探針尺寸要求達(dá)到微米級(jí)。它是一種精密電子元器件，具有較高的制造技術(shù)含量。

在晶圓或芯片測(cè)試的過(guò)程中，通常會(huì)使用探針來(lái)準(zhǔn)確連接晶圓或芯片的引腳或錫球與測(cè)試機(jī)，以便檢測(cè)產(chǎn)品的導(dǎo)通性、電流性、功能性和老化性等性能指標(biāo)。

垂直探針可以對(duì)應(yīng)高密度信號(hào)觸點(diǎn)的待測(cè)半導(dǎo)體產(chǎn)品的細(xì)間距排列，針尖接觸待測(cè)半導(dǎo)體產(chǎn)品所需的縱向位移可以通過(guò)針體本身的彈性變形來(lái)提供。懸臂探針為探針部提供適當(dāng)?shù)目v向位移，用于通過(guò)橫向懸臂接觸待測(cè)半導(dǎo)體產(chǎn)品，以避免探針部對(duì)待測(cè)半導(dǎo)體產(chǎn)品施加過(guò)大的針壓。

在眾多探針技術(shù)中，五孔探針是一種應(yīng)用于流體動(dòng)力學(xué)領(lǐng)域，特別是對(duì)于復(fù)雜流場(chǎng)特性測(cè)量的工具。它的設(shè)計(jì)基于伯努利原理和流體連續(xù)性方程，主要用于測(cè)量氣流的速度、壓力分布以及流場(chǎng)的湍流特性。五孔探針因其結(jié)構(gòu)包含五個(gè)開(kāi)孔而得名，這五個(gè)孔一般按照特定的幾何布局排列。

物理處理主要包括粉碎和篩分。，廢料被送入粉碎機(jī)進(jìn)行粉碎，使其變?yōu)檩^小的顆粒。然后，顆粒通過(guò)篩網(wǎng)進(jìn)行分級(jí)，分離出不同粒度的廢料。

通過(guò)合理的回收流程，鍍金探針廢料中的金屬可以得到提取和再利用，減少資源浪費(fèi)，降低環(huán)境污染。這對(duì)于實(shí)現(xiàn)可持續(xù)發(fā)展具有重要意義。因此，應(yīng)該加強(qiáng)對(duì)鍍金探針廢料回收的研究和推廣，提高回收率，并推動(dòng)相關(guān)政策的制定和實(shí)施。