分析儀可以用來(lái)對(duì)各種不同類型的礦石進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)分析。通過(guò)現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試的成熟的X射線管分析系統(tǒng),無(wú)輻射性同位素,現(xiàn)場(chǎng)分析時(shí)能做出快速而全面的礦石類型研究,對(duì)樣品要求低,但是測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確,能準(zhǔn)確分析高濃度樣品,避免了驗(yàn)證性的實(shí)驗(yàn)室測(cè)試。
分析儀采用了X射線管光源、多光束過(guò)濾技術(shù)、以及惠普個(gè)人數(shù)位助理技術(shù)(惠普掌 上型電腦),從而使其采測(cè)范圍、檢測(cè)速度、檢測(cè)精度都非常出色,并具有的升級(jí)潛力。
檢測(cè)范圍
品位0.1-95% 硅 0.01-0.1% 磷 0.01-0.9%
鈦 0.1-45% 鋁 0.01-5%
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