技術(shù)參數(shù):
* 檢測(cè)范圍 0--600mm
* 鋼板溫度 0--1200°C
* 鋼板速度 0--25m/s
* 采樣時(shí)間 優(yōu)于1ms
* 測(cè)量精度 動(dòng)態(tài)優(yōu)于±0.03%
* 安裝方式 根據(jù)要求定制
X射線測(cè)厚儀利用X射線管通電產(chǎn)生X射線作為信號(hào)源,根據(jù)X射線穿透被測(cè)物時(shí)的強(qiáng)度衰減來進(jìn)行轉(zhuǎn)換檢測(cè)薄膜的厚度,它的特點(diǎn)是放射物質(zhì)能量低,無需使用許可證,測(cè)量精度高,可測(cè)量透明或不透明材料,不受添加劑和色母料的影響,不受環(huán)境溫度和薄膜抖動(dòng)影響。
兩個(gè)激光位移傳感器的激光對(duì)射,被測(cè)體放置在對(duì)射區(qū)域內(nèi),根據(jù)測(cè)量被測(cè)體上表面和下表面的距離,計(jì)算出被測(cè)體的厚度。
的基本組成是激光器、成像物鏡、光電位敏接收器、信號(hào)處理機(jī)測(cè)量結(jié)果顯示系統(tǒng)。激光束在被測(cè)物體表面上形成一個(gè)亮的光斑,成像物鏡將該光斑成像到光敏接收器的光敏上,產(chǎn)生探測(cè)其敏感面上光斑位置的電信號(hào)。當(dāng)被測(cè)物體移動(dòng)時(shí),其表面上光斑相對(duì)成像物鏡的位置發(fā)生改變,相應(yīng)地成像點(diǎn)在光敏器件上的位置也要發(fā)生變化
檢測(cè)頭采用電離室和電子前置放大器組成電離室檢測(cè)頭,離子室設(shè)計(jì)具有大空間,高抗干擾性、高靈敏度等特點(diǎn)。系統(tǒng)備有風(fēng)冷、油冷恒溫冷卻單元,延長(zhǎng)系統(tǒng)的使用壽命。
薄膜測(cè)厚儀根據(jù)程序預(yù)先設(shè)定的計(jì)算公式,通過組合不同的標(biāo)樣厚度并將其置于射線下測(cè)量,以得到一組基準(zhǔn)數(shù)據(jù),并存于PLC中。
薄膜測(cè)厚儀由于工作現(xiàn)場(chǎng)環(huán)境復(fù)雜,系統(tǒng)工作一段時(shí)間后由于各種因素的干擾,系統(tǒng)會(huì)產(chǎn)生基準(zhǔn)漂移。這時(shí)通過系統(tǒng)效驗(yàn)?zāi)K可以修復(fù)這種漂移,以系統(tǒng)測(cè)量的準(zhǔn)確性
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