X熒光光譜儀的優(yōu)勢：
1、制樣簡單：通常情況下是物理制樣。試樣經(jīng)過簡單的破碎、研磨成粉末壓片或熔融制成；
2、分析范圍廣：理論上從元素Be到92號元素鈾均可進行分析；
3、測量范圍寬：從0.001%到均可進行分析。

X熒光光譜儀優(yōu)點：
1、分析速度高。測定用時與測定精密度有關(guān)，但一般都很短，2～5分鐘*可以測完樣品中的全部待測元素；
2、X射線熒光光譜跟樣品的化學結(jié)合狀態(tài)無關(guān)，而且跟固體、粉末、液體及晶質(zhì)、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒有關(guān)系。(氣體密封在容器內(nèi)也可分析)但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現(xiàn)象。特別是在超軟X射線范圍內(nèi)，這種效應(yīng)更為顯著。波長變化用于化學位的測定；
3、非破壞分析。在測定中不會引起化學狀態(tài)的改變，也不會出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象。同一試樣可反復(fù)多次測量，結(jié)果重現(xiàn)性好；
4、X射線熒光分析是一種物理分析方法，所以對在化學性質(zhì)上屬同一族的元素也能進行分析；
5、分析精密度高；
6、制樣簡單，固體、粉末、液體樣品等都可以進行分析。

x熒光光譜儀介紹
x熒光光譜儀樣品種類樣品狀態(tài)一般有固體塊狀樣品、粉末樣品和液體樣品等。
（1）固體塊狀樣品包括黑色金屬、有色金屬、電鍍板、硅片、塑料制品及橡膠制品等，其中金屬材料占了很大的比例。
（2）粉末樣品包括各種礦產(chǎn)品，水泥及其原材料，金屬冶煉的原材料和副產(chǎn)品如鐵礦石、煤、爐渣等；還有巖石土壤等。
（3）液體樣品油類產(chǎn)品、水質(zhì)樣品以及通過化學方法將固體轉(zhuǎn)換成的溶液等。

受激發(fā)的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統(tǒng)測量這些放射出來的二次X射線的能量及數(shù)量。然后，儀器軟件將探測系統(tǒng)所收集到的信息轉(zhuǎn)換成樣品中各種元素的種類及含量。

x熒光光譜儀1．分析原理：能量色散X射線熒光分析法
2．分析元素：K～U任意元素,鉛（Pb）、（Hg）、六價鉻（Cr6+）、
（PBB）和醚（PBDE）中的溴
3．工作條件：工作溫度：10-30℃相對濕度：≤70%
電源：AC220V±10%、50/60Hz
4．技術(shù)指標新高靈敏度探測器（分辨率達149Ev），精密的放大電路，
提高Cd、Pb元素的靈度。
檢出下限(Cd/Pd)：Cd/Cr/Hg/Br≦2ppm,Pb≦5ppm
樣品形狀：任意大小，任意不規(guī)則形狀
樣品類型：塑膠/金屬/薄膜/粉末/液體
小樣品腔尺寸：300×300×100mm
大樣品腔尺寸：樣品尺寸不受限制
X射線管：材/Mo管電壓/5～50kV管電流/大1～1000μA
照射直徑：2、5、8mm
探測器：Si(PIN)半導(dǎo)體高靈敏度探測器
濾光片：八種新型濾光片自動選擇
樣品定位：微動載物平臺（選配）
樣品觀察：130萬分辨率彩色CCD攝像機
微區(qū)分析：X光聚焦微區(qū)分析系統(tǒng)（選配）軟件
定量分析：理論Alpha

性能
具有MSBUS總線的智能電池、實時監(jiān)控電池、備用電池可直接查看電池剩余容量。用戶可自定義創(chuàng)建報告：包括公司標志、公司地址、檢測結(jié)果、光譜譜圖及其他樣品信息（如產(chǎn)品描述、產(chǎn)地、批號等）。內(nèi)置DoubleBeam ?技術(shù)自動感知儀器前方有無樣品，提高射線的安全性和防護等級。且自動根據(jù)外部環(huán)境亮度調(diào)節(jié)顯示器亮度。可將設(shè)備聯(lián)入互聯(lián)網(wǎng)，可遠程對儀器進行設(shè)置及檢修。