我公司秉承質量，顧客至上的原則，竭誠為國內外廣大客戶朋友提供*的服務 希望通過我們的真誠與努力能夠成為您長期的合作伙伴，共創(chuàng)輝煌！用戶的需求在時間作出反應，為用戶提供*產品及的服務。
企業(yè)精神
精誠合作 務實創(chuàng)新 開拓進取
免費安裝
提供化學分析方法
免費調試
提供分析工藝流程
免費運輸
損耗由本公司負責
免費培訓
幫助籌建化驗室
儀器實行終身服務 實行二十四小時響應

產品特點
1.小型化、、高速度、易操作，高靈敏度、分析
2.可同時分析40種元素
3.采用多準直器多濾光片和扣背景技術
4. Peltier電制冷 FAST SDD硅漂移檢測器提供出色的短期重復性和長期再現(xiàn)性以及出色的元素峰分辨率
5.記數(shù)數(shù)字多道電路設計，雙真空抽速機構，真空度自動穩(wěn)定系統(tǒng)
6.標配基本參數(shù)法軟件，多任務，多窗口操作
7.薄膜濾光片技術，有效提高輕元素檢出限

全新設計的XTEST分析軟件 軟件內核包括基本參數(shù)法（FP），經驗系數(shù)法（EC）,可輕松分析各類樣品。 光譜處理參數(shù)包括用于定義背景連續(xù)性，堆積峰和峰總和，平滑度以及測量到的峰背景光譜的數(shù)量 對吸收以及厚膜和薄膜二次熒光的完全校正，即所有基質效應，增強和吸收。
譜顯示：峰定性，KLM標記，譜重疊比較，可同時顯示多個光譜圖 可以通過積分峰的凈面積或使用測得的參考光峰響應，將光峰強度建模為高斯函數(shù)。 可以使用純基本參數(shù)方法，具有分散比的基本參數(shù)（對于包含大量低Z材料的樣品）或通過簡單的小二乘擬合進行定量分析。 基本參數(shù)分析可以基于單個多元素標準，多個標準或沒有標準的樣品。

礦石光譜分析儀市場前景廣闊。礦石是重要的資源，對于許多行業(yè)和國家的經濟發(fā)展至關重要。光譜分析儀是一種的儀器，可以用于礦石的化學成分和結構分析，以及礦石質量的評估。

鐵精粉光譜儀通常采用光學原理，包括可見光、紅外光和紫外光等波長范圍。它通過將樣品暴露在特定波長的光下，測量樣品對光的吸收、散射或發(fā)射等特性，然后根據(jù)這些特性獲得樣品的光譜信息。利用鐵精粉光譜儀，可以對鐵精粉樣品的化學成分、晶體結構、雜質含量和物理性。

鐵礦石光譜儀通常采用光柵光譜儀或干涉光譜儀的原理。樣品通過樣品室或探頭被照射光源照射，樣品會吸收特定波長的光，而其他波長的光則被反射或透射。這些吸收、反射或透射光會被光譜儀接收并分析。