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了解你的被測試裝置被測試裝置（DUT）的性能會顯著影響射頻測量。，溫度會影響穩(wěn)定性，并因此與可重復性密切相關。許多射頻器件和射頻儀器沒有對溫度變化的內部補償。它們在穩(wěn)定的溫度下工作以使溫度漂移引起的測量誤差。當前的環(huán)境（，空調循環(huán)的開啟與關閉，覆蓋物和面板的移除或增加，處于戶外或室內，以及是否接近熱源）會有很大影響。需要注意適當的預熱時間、被測試裝置的冷卻需求和周邊的環(huán)境以確保溫度穩(wěn)定性。