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網(wǎng)絡分析儀一種能在寬頻帶內(nèi)進行掃描測量以確定網(wǎng)絡參量的綜合性微波測量儀器。全稱是微波網(wǎng)絡分析儀。網(wǎng)絡分析儀是測量網(wǎng)絡參數(shù)的一種新型儀器，可直接測量有源或無源、可逆或不可逆的雙口和單口網(wǎng)絡的復數(shù)散射參數(shù)，并以掃頻方式給出各散射參數(shù)的幅度、相位頻率特性。自動網(wǎng)絡分析儀能對測量結果逐點進行誤差修正，并換算出其他幾十種網(wǎng)絡參數(shù)，如輸入反射系數(shù)、輸出反射系數(shù)、電壓駐波比、阻抗（或?qū)Ъ{）、衰減（或增益）、相移和群延時等傳輸參數(shù)以及隔離度和定向度等。矢量網(wǎng)絡分析儀是微波毫米波測試儀器領域中為重要、應用為廣泛的一種智能化測試儀器，在業(yè)界享有“微波/毫米波測試儀器”的美譽，主要用于被測網(wǎng)絡散射參量雙向S參數(shù)的幅頻、相頻及群時延等特性信息的測量，廣泛應用于以相控陣雷達為代表的新一代電子裝備研制、生產(chǎn)、維修和計量等領域，還可以應用于制導、隱身及反隱身、航空航天、衛(wèi)星通信、雷達偵測和監(jiān)視、教學實驗以及天線與RCS測試、元器件測試、材料測試等諸多領域矢量網(wǎng)絡分析儀，它本身自帶了一個信號發(fā)生器，可以對一個頻段進行頻率掃描. 如果是單端口測量的話，將激勵信號加在端口上，通過測量反射回來信號的幅度和相位，就可以判斷出阻抗或者反射情況. 而對于雙端口測量，則還可以測量傳輸參數(shù). 由于受分布參數(shù)等影響明顯，所以網(wǎng)絡分析儀使用之前進行校準。
在微波電路的設計和計算中，需要對所用元、器件特性的全部網(wǎng)絡參數(shù)進行全面定值。而微波元、器件中，包括微波晶體管，大多采用S參數(shù)（散射參數(shù)）來表述它們的特性。一般二端口網(wǎng)絡需要有四個散射參數(shù)（S11、S22、S12和S21），才能對其全面定值。因此往往采用測量的方法來確定網(wǎng)絡的參數(shù)。
圖2 網(wǎng)絡分析儀框圖
圖2 網(wǎng)絡分析儀框圖
20世紀60年代中期，出現(xiàn)能在寬頻帶范圍內(nèi)掃頻測量并能顯示全部網(wǎng)絡S參數(shù)的模值和幅角的多功能儀器，這就是微波網(wǎng)絡分析儀。因此網(wǎng)絡分析儀的基本部分實際上就是一臺S參數(shù)測量儀。方框圖如圖2所示。
由于測定了網(wǎng)絡的S參數(shù)后，網(wǎng)絡的其它各種特性參量都可以從S參數(shù)中導出，因此，微波網(wǎng)絡分析儀具有多種功能。
網(wǎng)絡分析儀是在四端口微波反射計（見駐波與反射測量）的基礎上發(fā)展起來的。在60年代中期實現(xiàn)自動化，利用計算機按一定誤差模型在每一頻率點上修正由定向耦合器的定向性不完善、失配和竄漏等而引起的誤差，從而使測量度大為提高，可達到計量室中精密的測量線技術的測量度，而測量速度提高數(shù)十倍 [2] 。
原理編輯 語音
一個任意多端口網(wǎng)絡的各端口終端均匹配時，由第n個端口輸入的入射行波 an將散射到其余一切端口并 發(fā)射出去。若第m個端口的出射行波為bm，則n口與m口之間的散射參數(shù)Smn=bm/an。一個雙口網(wǎng)絡共有四個散射參數(shù) S11、S21、S12和S22。當兩個終端均匹配時，S11和S22就分別是端口1和2的反射系數(shù)，S21是由1口至2口的傳輸系數(shù)，S12則是反方向的傳輸系數(shù)。當某一端口m終端失配時，由終端反射回來的行波又重新進入m口。這可以等效地看成是m口仍是匹配的，但有一個行波am入射到m口。這樣，在任意情況下都可以列出各口等效入射、出射行波與散射參數(shù)之間關系的聯(lián)立方程組。據(jù)此可以解出網(wǎng)絡的一切特性參數(shù)，如終端失配時的輸入端反射系數(shù)、電壓駐波比、輸入阻抗以及各種正向反向傳輸系數(shù)等。這就是網(wǎng)絡分析儀的基本的工作原理。單端口網(wǎng)絡可視為雙口網(wǎng)絡的特例，在其中除S11之外，恒有S21=S12=S22。對于多端口網(wǎng)絡，除了一個輸入和一個輸出端口之外，可在其余一切端口都接上匹配負載，從而等效為一個雙端口網(wǎng)絡。輪流選擇各對端口作為等效雙口網(wǎng)絡的輸入、輸出端，進行一系列測量并列出相應的方程，即可解得n端口網(wǎng)絡的全部n2個散射參數(shù)，從而求出n端口網(wǎng)絡的一切特性參數(shù)。 　圖3左為四端口網(wǎng)絡分析儀測量S11時測試單元的原理示意，箭頭表示各行波的路徑。信號源 u輸出信號經(jīng)開關S1和定向耦合器D2輸入到被測網(wǎng)絡的端口1，這就是入射波a1。端口1的反射波（即1口的出射波b1）經(jīng)定向耦合器 D2和開關傳到接收機的測量通道。信號源u的輸出同時經(jīng)定向耦合器D1傳到接收機的參考通道，這個信號是正比于a1的。于是雙通道幅度-相位接收機就測出b1/a1，即測出S11，包括其幅值和相位（或?qū)嵅亢吞摬浚y量時，網(wǎng)絡的端口2接上匹配負載R1，以滿足散射參數(shù)所規(guī)定的條件。系統(tǒng)中的另一個定向耦合器D3也終接匹配負載R2，以免產(chǎn)生不良影響。其余三個S 參數(shù)的測量原理與此類同。圖3右為測量不同Smn參數(shù)時各開關應放置的位置。
圖3 網(wǎng)絡分析儀
圖3 網(wǎng)絡分析儀
在實際測量之前，先用三個阻抗已知的標準器（例如一個短路、一個開路和一個匹配負載）供儀器進行一系列測量，稱為校準測量。由實測結果與理想（無儀器誤差時）應有的結果比對，可通過計算求出誤差模型中的各誤差因子并存入計算機中，以便對被測件的測量結果進行誤差修正。在每一頻率點上都按此進行校準和修正。測量步驟和計算都十分復雜，非人工所能勝任。
上述網(wǎng)絡分析儀稱為四端口網(wǎng)絡分析儀，因為儀器有四個端口，分別接到信號源、被測件、測量通道和測量的參考通道。它的缺點是接收機的結構復雜，誤差模型中并未包括接收機所產(chǎn)生的誤差。
參數(shù)編輯 語音
參數(shù)（散射參數(shù)）用于評估 DUT 反射信號和傳送信號的性能。 參數(shù)由兩個復數(shù)之比定義，它包含有關信號的幅度和相位的信息。 參數(shù)通常表示為：
輸出 輸入
輸出：輸出信號的 DUT 端口號。
輸入：輸入信號的 DUT 端口號。
例如，參數(shù) S21 是 DUT 上端口 2 的輸出信號與 DUT 上端口 1 的輸入信號之比，輸出信號和輸入信號都用復數(shù)表示。
當啟動平衡 - 不平衡轉換功能時，可以選擇混合模 S 參數(shù)。
新發(fā)展編輯 語音
1973年又研制出六端口網(wǎng)絡分析儀。它利用一個由定向耦合器和混合接頭（魔 T）組成的六端口網(wǎng)絡作為測量單元，除二個端口分別接信號源和被測件之外，其余四個端口均接到幅值檢波器或功率計。通過檢出的四個幅值的適當組合，可以求出被測網(wǎng)絡散射參數(shù)的模和相位。它不必使用復雜的雙通道接收機來取得相位信息，從而使測量系統(tǒng)的硬件大為簡化。此外，它有超過必需數(shù)目的冗余測量端口，可以利用冗余數(shù)據(jù)之間互相核對來提高測量結果的可信性。但它的計算工作比四端口網(wǎng)絡分析儀要復雜得多。采用雙六端口網(wǎng)絡分析儀來測量雙端口網(wǎng)絡，即用一個六端口網(wǎng)絡儀接在被測網(wǎng)絡的端口1，另一個接在端口2，可在測量過程中避免開關轉換或人工倒轉被測網(wǎng)絡的輸入端和輸出端，進一步提高了測量的度

世通儀器檢測服務有限公司，全國有多個實驗室（廣東，江蘇，陜西，河南，重慶，四川，福建等等）均可上門檢測，證書帶CANS資質(zhì)，歡迎來電咨詢-陳經(jīng)理電子頻率計數(shù)器，功能是測量電子頻率。它根據(jù)頻率的不同范圍可把頻率計數(shù)器分為兩類：通用頻率計數(shù)器和微波頻率計數(shù)器（后者較為精密）。電子頻率計數(shù)器簡稱頻率計數(shù)器 [1] ,根據(jù)頻率的不同范圍可把頻率計數(shù)器分為兩類：通用頻率計數(shù)器和微波頻率計數(shù)器。前者的測量范圍一般在1GHz以下；而微波頻率計數(shù)器提供從DC到數(shù)十GHz的頻率測量，可覆蓋整個射頻、微波頻段。1、高頻測量是頻率計數(shù)器特的優(yōu)勢，普通示波器很難達到。頻率測量很簡單，將信號接入頻率計數(shù)器輸入端后再調(diào)節(jié)功能鍵至頻率測量，屏幕即顯示當前頻率值。單一的頻率測量只需要一個輸入通道即可。
2、頻率計數(shù)器周期為波形振動一次所需要的時間，是頻率的倒數(shù)。大多數(shù)頻率計數(shù)器都會提供這項功能。信號周期的測量方法和頻率測量基本相似。
3、頻率計數(shù)器頻率比是對兩個頻率進行比較，它可用來測試倍頻器或前置換算器（分頻器）的性能。在許多儀器系統(tǒng)中，兩個頻率的比值遠比兩個立的頻率值有意義。例如在比率電容傳感器研發(fā)中，工程師關心的是兩個信號的頻率比。
4、頻率計數(shù)器統(tǒng)計功能：可以用來統(tǒng)計和顯示當前輸入數(shù)據(jù)的標準偏差，并能選擇統(tǒng)計次數(shù)。標準偏差是描述信號一致性好環(huán)的參數(shù)。標準偏差越大，表示信號幅值相差比較大，一致性差；而較小的標準偏差表示信號的幅值都很接近，信號波動小。
電子頻率計數(shù)器 - 應用領域
1、頻率計數(shù)器功能是根據(jù)其應用來設計的。頻率計數(shù)器常見的應用是確定發(fā)射機和接收機的特性。發(fā)射機的頻率進行檢驗和校準，才能符合有關規(guī)章制度的要求。頻率計數(shù)器能對輸出頻率和一些關鍵的內(nèi)部頻率點(如本振)進行測量，查明無線電發(fā)射時候是否滿足技術指標。
2、頻率計數(shù)器的另一些應用包括計算機領域，在此領域中的數(shù)據(jù)通信、微處理器和顯示器中都使用了時鐘。對性能要求不高的應用領域包括對機電產(chǎn)品進行測量。
3、頻率計數(shù)器的早期應用之一是作為信號發(fā)生器的一部分。在信號發(fā)生器信號輸出之前，先通過頻率計數(shù)器部件測量該信號，測量到的結果被轉換為模擬信號用于反饋控制信號發(fā)生器的頻率，直到達到所需要的數(shù)值，從而能得到穩(wěn)定的信號輸出。很多信號發(fā)生器中都集成了頻率計數(shù)器的簡單功能。例如OI1842信號發(fā)生器也集成了測量范圍為0.1Hz～50MHz的頻率計功能。

世通儀器檢測服務有限公司，全國有多個實驗室（廣東，江蘇，陜西，河南，重慶，四川，福建等等）均可上門檢測，證書帶CANS資質(zhì)，歡迎來電咨詢-陳經(jīng)理X射線熒光光譜儀（X-ray Fluorescence Spectrometer，簡稱：XRF光譜儀），是一種快速的、非破壞式的物質(zhì)測量方法。X射線熒光（X-ray fluorescence，XRF）是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時激發(fā)出的次級X射線。這種現(xiàn)象被廣泛用于元素分析和化學分析，特別是在金屬，玻璃，陶瓷和建材的調(diào)查和研究，地球化學，法醫(yī)學，考古學和藝術品，例如油畫和壁畫。X射線熒光光譜儀（X-rayFluorescenceSpectrometer，簡稱：XRF光譜儀），是一種快速的、非破壞式的物質(zhì)測量方法。X射線熒光（X-rayfluorescence，XRF）是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時激發(fā)出的次級X射線。這種現(xiàn)象被廣泛用于元素分析和化學分析，特別是在金屬，玻璃，陶瓷和建材的調(diào)查和研究，地球化學，法醫(yī)學，考古學和藝術品，例如油畫和壁畫。XRF用X光或其他激發(fā)源照射待分析樣品，樣品中的元素之內(nèi)層電子被擊出后，造成核外電子的躍遷，在被激發(fā)的電子返回基態(tài)的時候，會放射出特征X光；不同的元素會放射出各自的特征X光，具有不同的能量或波長特性。檢測器(Detector)接受這些X光，儀器軟件系統(tǒng)將其轉為對應的信號。這一現(xiàn)象廣泛用于元素分析和化學分析，特別是在研究金屬，玻璃，陶瓷和建筑材料，以及在地球化學研究、法醫(yī)學、電子產(chǎn)品進料品管（EURoHS）和考古學等領域，在某種程度上與原子吸收光譜儀互補，減少工廠附設的品管實驗室之分析人力投入。 當材料暴露在短波長X光檢查，或伽馬射線，其組成原子可能發(fā)生電離，如果原子是暴露于輻射與能源大于它的電離勢，足以驅(qū)逐內(nèi)層軌道的電子，然而這使原子的電子結構不穩(wěn)定，在外軌道的電子會“回補”進入低軌道，以填補遺留下來的洞。在“回補”的過程會釋出多余的能源，光子能量是相等兩個軌道的能量差異的。因此，物質(zhì)放射出的輻射，這是原子的能量特性。 [1]
X射線熒光光譜法在化學分析編輯 語音
主要使用X射線束激發(fā)熒光輻射，次是在1928年由格洛克爾和施雷伯提出的。到了現(xiàn)在，該方法作為非破壞性分析技術，并作為過程控制的工具，廣泛應用于采掘和加工工業(yè)。原則上，輕的元素，可分析出鈹（z=4），但由于儀器的局限性和輕元素的低X射線產(chǎn)量，往往難以量化，所以針對能量分散式的X射線熒光光譜儀，可以分析從輕元素的鈉（z=11）到鈾，而波長分散式則為從輕元素的硼到鈾。 [2]