產(chǎn)品詳情：
二手TR5001E ICT在線測(cè)試儀（二手德律TR-518FE）


產(chǎn)品說明
ICT在線測(cè)試儀是DL科技繼成功推出TR518之后，運(yùn)用更之零組件及軟體技術(shù)所開發(fā)之新一代機(jī)種。其主要特性在于測(cè)試 速度較傳統(tǒng)ICT快一倍以上。 此外，更具有可程式化開短路學(xué)習(xí)模式設(shè)定，滿足各種不同待測(cè)物之測(cè)試特性。對(duì)于高針點(diǎn)的產(chǎn)品或大批量之制程，無疑是一臺(tái)抵兩臺(tái)的選擇，無論在設(shè)備本身或治具投資上均可因此而大大降低成本。
產(chǎn)品特色
電腦自動(dòng)學(xué)習(xí)并自動(dòng)產(chǎn)生，開/短路、Pin Information及IC保護(hù)二極體之測(cè)試程式　
可網(wǎng)路連線，并結(jié)合資料庫(kù)管理及測(cè)試站監(jiān)控程式
Board View功能可即時(shí)顯示不良元件、針點(diǎn)之位置，方便檢修
大型主機(jī)設(shè)計(jì)，高密度SwitchingBoard，高可達(dá)3584測(cè)試點(diǎn)
應(yīng)用IC Clamping Diode技術(shù)，可輔助檢測(cè) BGA 開路空焊問題

TR518FE是德律科技繼成功推出TR518F之后，運(yùn)用更之零組件及軟體技術(shù)所開發(fā)之新一代機(jī)種。其主要特性在于測(cè)試速度較傳統(tǒng)ICT快一倍以上。 此外，更具有可程式化開短路學(xué)習(xí)模式設(shè)定，滿足各種不同待測(cè)物之測(cè)試特性。對(duì)于高針點(diǎn)的產(chǎn)品或大批量之制程，無疑是一臺(tái)抵兩臺(tái)的選擇，無論在設(shè)備本身或治具投資上均可因此而大大降低成本。

◆ 視窗版作業(yè)環(huán)境、人性化界面設(shè)計(jì)、操作簡(jiǎn)易

◆ 電腦自動(dòng)學(xué)習(xí)并自動(dòng)產(chǎn)生，開/短路、Pin Information及IC

◆ 保護(hù)二極體之測(cè)試程式

◆ 電腦自動(dòng)隔離點(diǎn)選擇功能，自動(dòng)判斷信號(hào)源及信號(hào)流入方向

◆ 可網(wǎng)路連線，并結(jié)合資料庫(kù)管理及測(cè)試站監(jiān)控程式

◆ 完整測(cè)試統(tǒng)計(jì)資料及報(bào)表產(chǎn)生，且自動(dòng)儲(chǔ)存，不因斷電而遺失數(shù)據(jù)

◆ 系統(tǒng)具自我診斷功能及遠(yuǎn)端遙控功能

◆ Board View功能可即時(shí)顯示不良元件、針點(diǎn)之位置，方便檢修

◆ 高科技半導(dǎo)體CMOS Switching設(shè)計(jì)，無壽命限制，待測(cè)物安全性高

◆ 操作界面可以壓床式、真空式、Off-Line、In-Line等模式

◆ 大型主機(jī)設(shè)計(jì)，高密度SwitchingBoard，可達(dá)3584測(cè)試點(diǎn)

◆ 可加裝調(diào)整裝置具動(dòng)態(tài)調(diào)整裝調(diào)整功能

◆ 多重安全性設(shè)計(jì)，確實(shí)保障操作人員率先引進(jìn)TestJet Technology技術(shù)，檢測(cè)SMT元件開路空焊問題，效果好

◆ 應(yīng)用IC Clamping Diode技術(shù)，可輔助檢測(cè) BGA 開路空焊問題

◆ 輔助學(xué)習(xí)模組可檢測(cè)IC反向問題

◆ 漏電流量測(cè)方式可輔助檢測(cè)電容容性達(dá)50-60%

◆ 選項(xiàng)功能強(qiáng)大，可針對(duì)同之測(cè)試需求，加裝如頻率量測(cè)、 電壓量測(cè)、電流量測(cè)

◆ 具備1MHZ信號(hào)源，可量測(cè)小電容小電感

◆ 具三點(diǎn)量測(cè)模式，可量測(cè)電晶體FET、SCR等元件，并可對(duì)Photo-Coupler提供四點(diǎn)量測(cè)，確實(shí)檢測(cè)上述元件 之反插問題

◆ 具Pin Contact檢查功能

5001E滿足電子產(chǎn)業(yè)中各類產(chǎn)品對(duì)測(cè)試環(huán)境不同之要求，所推出之全系列產(chǎn)品之一。其切換電路板乃應(yīng)用且高壽命之機(jī)械式Reed Relay，適用模擬產(chǎn)品及高壓電流之檢測(cè)，并可整合動(dòng)態(tài)量測(cè) 。而高密度之設(shè)計(jì)及軟件技術(shù)，使TR518FR之測(cè)點(diǎn)可高達(dá)2560測(cè)試點(diǎn)，其速度亦較傳統(tǒng)的ICT快80%以上。
5001E在線測(cè)試儀規(guī)格參數(shù)
測(cè)試點(diǎn)數(shù) 標(biāo)準(zhǔn)配備:256點(diǎn),可以每片開關(guān)板64點(diǎn)或128點(diǎn)擴(kuò)充至1792點(diǎn)
測(cè)試步驟 步驟: 12288步驟,可依需求擴(kuò)充
測(cè)試時(shí)間 開路/短路測(cè)試:每1000點(diǎn)約1.5Sec(Typical DUT)
元件測(cè)試:每一元件約0.8mSec至30mSec(Typical DUT)
測(cè)試范圍 電阻:0.1Ω至40MΩ電晶體: ±5V
電容:1.0PF至40mF Zener二極體: 標(biāo)準(zhǔn)配備,0.1V至48V

TR518FR是德律科技為滿足電子產(chǎn)業(yè)中各類產(chǎn)品對(duì)測(cè)試環(huán)境不同之要求，所推出之全系列產(chǎn)品之一。其切換電路板乃應(yīng)用且高壽命之機(jī)械式Reed Relay，適用模擬產(chǎn)品及高壓電流之檢測(cè)，并可整合動(dòng)態(tài)量測(cè) 。而高密度之設(shè)計(jì)及軟件技術(shù)，使TR518FR之測(cè)點(diǎn)可高達(dá)2560測(cè)試點(diǎn)，其速度亦較傳統(tǒng)的ICT快80%以上。

二手TR-5001E元件測(cè)試儀 性，成本低，適合選擇
美國(guó)安捷倫公司針對(duì)SMD IC接腳開路難以完整偵測(cè)的問題，成功的研發(fā)出Agilent TestJet Technology的技術(shù)以因應(yīng)。本公司在取得安捷倫公司的專利授權(quán)后，已于JET-300 ICT 系統(tǒng)上配備了此技術(shù)，大幅提升了數(shù)位電路板的可偵測(cè)率。電腦主機(jī)板、介面卡或傳真機(jī)、數(shù)據(jù)機(jī)的機(jī)板皆可得到滿意的測(cè)試效果。其應(yīng)用上的優(yōu)點(diǎn)如下：
1.Agilent TestJet Technology的功能是利用量測(cè)一個(gè)銅箔板與IC腳框(Frame) 之間的電容量來偵測(cè)接腳的斷路與否。此技術(shù)無需撰寫任何程式，即可做正確而迅速的測(cè)試。
2.Agilent TestJet Technology可測(cè)試各種不同包裝的IC, 如 Insertion type，PLCC type，QFP type，TAB type，PGA type (無接地者)，BGA type (OMPAC)等都可測(cè)試。
3.Agilent TestJet Technology也可用來偵測(cè)各種插座的接腳斷路，不論是Insertion type或是 SMD type皆可偵測(cè)。

測(cè)試資料統(tǒng)計(jì)的日?qǐng)?bào)表和月報(bào)表
圖表上半的長(zhǎng)條圖用以顯示當(dāng)月份每日累積OPEN/SHORT，零件不良率及整個(gè)測(cè)試的可接受率。圖表的下半派圖用以清楚明瞭地顯示當(dāng)日各不良原因的百分比。

網(wǎng)路即時(shí)監(jiān)控系統(tǒng)
如果把多臺(tái)ICT連到內(nèi)部網(wǎng)路系統(tǒng)，則每一臺(tái)ICT的測(cè)試統(tǒng)計(jì)資料都可以在網(wǎng)路上的任何一臺(tái)電腦上顯示，管理者可以很方便地隨時(shí)查看生產(chǎn)線的狀況。
網(wǎng)路錯(cuò)誤訊息查詢系統(tǒng)
只要把ICT 和檢修站都連到內(nèi)部網(wǎng)路系統(tǒng), 則在檢修站就可以檢視到不良板的所有錯(cuò)誤訊息，包括：打印機(jī)的印出訊息和錯(cuò)誤圖形顯示。
待測(cè)板圖形顯示功能
可在待測(cè)板不良發(fā)生時(shí)，明白顯示不良零件或焊點(diǎn)的位置，亦可在零件位置查詢時(shí)顯示零件的位置，此功能可大大縮短不良品檢修的時(shí)間和程式調(diào)適的時(shí)間。如果廠內(nèi)有網(wǎng)路連線系統(tǒng)，則此圖形亦可在維修站的螢?zāi)簧巷@示出來.