鍍層測(cè)厚儀是將X射線(xiàn)照射在樣品上，通過(guò)從樣品上反射出來(lái)的第二次X射線(xiàn)的強(qiáng)度來(lái)。測(cè)量鍍層等金屬薄膜的厚度，因?yàn)闆](méi)有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線(xiàn)只有45-75W左右，所以不會(huì)對(duì)樣品造成損壞。同時(shí)，測(cè)量的也可以在10秒到幾分鐘內(nèi)完成。

鍍層測(cè)厚儀主要特點(diǎn)：
1、測(cè)量數(shù)據(jù)數(shù)字化存儲(chǔ)、圖形顯示，準(zhǔn)確、直觀，測(cè)量精度高。
2、超過(guò)三十八種以上的可測(cè)量鍍層，以及所有導(dǎo)電性鍍層。絲狀線(xiàn)材和其它異形底材鍍層；
3、實(shí)時(shí)動(dòng)態(tài)顯示電位變化曲線(xiàn)、可識(shí)別和測(cè)量合金層或其它中間層；
4、自動(dòng)詳細(xì)分析多層鎳等類(lèi)似鍍層的電位差值及厚度，評(píng)價(jià)其耐腐蝕性能；
5、測(cè)量多層鎳無(wú)需三電系統(tǒng)，不用x-y記錄儀，儀器更可靠，使用更方便；
6、能分辨不同成份的鍍層、評(píng)價(jià)鍍層的均勻性，進(jìn)而判定鍍液的狀況、添加劑的性能；
7、監(jiān)視測(cè)量是否準(zhǔn)確、詳細(xì)分析測(cè)量數(shù)據(jù)，選擇打印測(cè)量曲線(xiàn)和標(biāo)準(zhǔn)格式報(bào)告；
8、測(cè)量數(shù)據(jù)便于長(zhǎng)期保存、隨時(shí)調(diào)用，可以利用其它軟件進(jìn)行數(shù)據(jù)處理；
9、操作簡(jiǎn)便、迅速，無(wú)需記憶測(cè)量種類(lèi)代碼等。儀器可自行檢定；
10、軟件免費(fèi)升級(jí)，測(cè)量鍍層種類(lèi)不斷增加。根據(jù)用戶(hù)要求定制軟件，或增加特別硬件。

測(cè)厚儀的測(cè)試方法主要有：磁性測(cè)厚法，放射測(cè)厚法，電解測(cè)厚法，渦流測(cè)厚法，超聲波測(cè)厚法。


測(cè)量注意事項(xiàng)：
⒈在進(jìn)行測(cè)試的時(shí)候要注意標(biāo)準(zhǔn)片集體的金屬磁性和表面粗糙度應(yīng)當(dāng)與試件相似。


⒉測(cè)量時(shí)側(cè)頭與試樣表面保持垂直。


⒊測(cè)量時(shí)要注意基體金屬的臨界厚度，如果大于這個(gè)厚度測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響。


⒋測(cè)量時(shí)要注意試件的曲率對(duì)測(cè)量的影響。因此在彎曲的試件表面上測(cè)量時(shí)不可靠的。


⒌測(cè)量前要注意周?chē)渌碾娖髟O(shè)備會(huì)不會(huì)產(chǎn)生磁場(chǎng)，如果會(huì)將會(huì)干擾磁性測(cè)厚法。


⒍測(cè)量時(shí)要注意不要在內(nèi)轉(zhuǎn)角處和靠近試件邊緣處測(cè)量，因?yàn)橐话愕臏y(cè)厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。


⒎在測(cè)量時(shí)要保持壓力的恒定，否則會(huì)影響測(cè)量的讀數(shù)。


⒏在進(jìn)行測(cè)試的時(shí)候要注意儀器測(cè)頭和被測(cè)試件的要直接接觸，因此超聲波測(cè)厚儀在進(jìn)行對(duì)側(cè)頭清除附著物質(zhì)。