產(chǎn)品特色
電腦自動(dòng)學(xué)習(xí)并自動(dòng)產(chǎn)生，開(kāi)/短路、Pin Information及IC保護(hù)二極體之測(cè)試程式　
可網(wǎng)路連線(xiàn)，并結(jié)合資料庫(kù)管理及測(cè)試站監(jiān)控程式
Board View功能可即時(shí)顯示不良元件、針點(diǎn)之位置，方便檢修
大型主機(jī)設(shè)計(jì)，高密度SwitchingBoard，高可達(dá)3584測(cè)試點(diǎn)
應(yīng)用IC Clamping Diode技術(shù)，可輔助檢測(cè) BGA 開(kāi)路空焊問(wèn)題。
二手TR-5001E 值得選擇；ICT58

TR518FE是德律科技繼成功推出TR518F之后，運(yùn)用更之零組件及軟體技術(shù)所開(kāi)發(fā)之新一代機(jī)種。其主要特性在于測(cè)試速度較傳統(tǒng)ICT快一倍以上。 此外，更具有可程式化開(kāi)短路學(xué)習(xí)模式設(shè)定，滿(mǎn)足各種不同待測(cè)物之測(cè)試特性。對(duì)于高針點(diǎn)的產(chǎn)品或大批量之制程，無(wú)疑是一臺(tái)抵兩臺(tái)的選擇，無(wú)論在設(shè)備本身或治具投資上均可因此而大大降低成本。

◆ 視窗版作業(yè)環(huán)境、人性化界面設(shè)計(jì)、操作簡(jiǎn)易

◆ 電腦自動(dòng)學(xué)習(xí)并自動(dòng)產(chǎn)生，開(kāi)/短路、Pin Information及IC

◆ 保護(hù)二極體之測(cè)試程式

◆ 電腦自動(dòng)隔離點(diǎn)選擇功能，自動(dòng)判斷信號(hào)源及信號(hào)流入方向

◆ 可網(wǎng)路連線(xiàn)，并結(jié)合資料庫(kù)管理及測(cè)試站監(jiān)控程式

◆ 完整測(cè)試統(tǒng)計(jì)資料及報(bào)表產(chǎn)生，且自動(dòng)儲(chǔ)存，不因斷電而遺失數(shù)據(jù)

◆ 系統(tǒng)具自我診斷功能及遠(yuǎn)端遙控功能

◆ Board View功能可即時(shí)顯示不良元件、針點(diǎn)之位置，方便檢修

◆ 高科技半導(dǎo)體CMOS Switching設(shè)計(jì)，無(wú)壽命限制，待測(cè)物安全性高

◆ 操作界面可以壓床式、真空式、Off-Line、In-Line等模式

◆ 大型主機(jī)設(shè)計(jì)，高密度SwitchingBoard，可達(dá)3584測(cè)試點(diǎn)

◆ 可加裝調(diào)整裝置具動(dòng)態(tài)調(diào)整裝調(diào)整功能

◆ 多重安全性設(shè)計(jì)，確實(shí)保障操作人員率先引進(jìn)TestJet Technology技術(shù)，檢測(cè)SMT元件開(kāi)路空焊問(wèn)題，效果好

◆ 應(yīng)用IC Clamping Diode技術(shù)，可輔助檢測(cè) BGA 開(kāi)路空焊問(wèn)題

◆ 輔助學(xué)習(xí)模組可檢測(cè)IC反向問(wèn)題

◆ 漏電流量測(cè)方式可輔助檢測(cè)電容容性達(dá)50-60%

◆ 選項(xiàng)功能強(qiáng)大，可針對(duì)同之測(cè)試需求，加裝如頻率量測(cè)、 電壓量測(cè)、電流量測(cè)

◆ 具備1MHZ信號(hào)源，可量測(cè)小電容小電感

◆ 具三點(diǎn)量測(cè)模式，可量測(cè)電晶體FET、SCR等元件，并可對(duì)Photo-Coupler提供四點(diǎn)量測(cè)，確實(shí)檢測(cè)上述元件 之反插問(wèn)題

◆ 具Pin Contact檢查功能

TR518FR是德律科技為滿(mǎn)足電子產(chǎn)業(yè)中各類(lèi)產(chǎn)品對(duì)測(cè)試環(huán)境不同之要求，所推出之全系列產(chǎn)品之一。其切換電路板乃應(yīng)用且高壽命之機(jī)械式Reed Relay，適用模擬產(chǎn)品及高壓電流之檢測(cè)，并可整合動(dòng)態(tài)量測(cè) 。而高密度之設(shè)計(jì)及軟件技術(shù)，使TR518FR之測(cè)點(diǎn)可高達(dá)2560測(cè)試點(diǎn)，其速度亦較傳統(tǒng)的ICT快80%以上。

TR5001E測(cè)試儀

二手TR5001E搭配兩段式壓床將可降低治具成本，此ICT為PCBAs測(cè)試之可擴(kuò)充平臺(tái)。TR5001E可以依客戶(hù)的測(cè)試需求，提供經(jīng)濟(jì)的測(cè)試解決方案，并且可完全滿(mǎn)足大多數(shù)客戶(hù)之測(cè)試要求。TR5001E整合MDA和可選擇性的ICT及Functional測(cè)試功能于同一平臺(tái),可以精簡(jiǎn)人力，縮短測(cè)試時(shí)間并提高產(chǎn)能。

二手ICT TR5001E特點(diǎn)
. 模組化升級(jí)選項(xiàng)，可將MDA設(shè)備升級(jí)至ICT與功能測(cè)試系統(tǒng)
. 高測(cè)試覆蓋率之解決方案
. 少量測(cè)點(diǎn)之解決方案與PXI模組功能測(cè)試擴(kuò)充
. 人性化接口搭配快速又簡(jiǎn)單的程序發(fā)展

規(guī)格
. 測(cè)試點(diǎn)數(shù) 可達(dá)3200(模擬)/1600(數(shù)字)
. 作業(yè)系統(tǒng) 微軟Microsoft Windows 2000/XP/7
. 測(cè)試治具 兩段式壓床
. 可測(cè)電路板尺寸 標(biāo)準(zhǔn): (寬) 360 mm x (長(zhǎng)) 300 mm x (高) 100 mm
選配: (寬) 500 mm x (長(zhǎng)) 350 mm x (高) 100 mm

. 模擬硬件
1、六線(xiàn)式量測(cè)
2、可編程AC電壓源/DC電壓源與電流源/DC高電壓源
3、AC/DC電壓源, DC電流源量測(cè)
4、元件R/L/C量

. 選配硬件
。模擬測(cè)試
1、TestJet技術(shù)非向量式開(kāi)路檢測(cè)，任意波形產(chǎn)生器(AWG)
。數(shù)字測(cè)試
1、每腳位全新數(shù)位1:1非多工式驅(qū)動(dòng)/接收比設(shè)計(jì)
2、待測(cè)板電源: 5V@3A, 3.3V@3A, 12V@3A, 18V@3A, -12V@3A, 24V@3A
3、可編程DUT電源: 25V@8A, 75V@2.5A
4、邊界掃描, BGA Tree測(cè)試能力
5、支援快閃記憶體及EEPROM及MAC的在線(xiàn)燒錄TR-5001E
選ICT 二手TR5001E

工作電壓：220V
配置：標(biāo)配（320點(diǎn)）
成色：二手九成新
JET-300在線(xiàn)測(cè)試機(jī)（IN CIRCUIT TESTER）是經(jīng)由量測(cè)電路板上所有零件，包括電阻、電容、電感、二極管、晶體管、FET、SCR、LED 和IC等，檢測(cè)出電路板產(chǎn)品的各種缺點(diǎn)諸如：線(xiàn)路短路、斷路、缺件、錯(cuò)件、零件不良或裝配不良等，并明確地指出缺點(diǎn)的所在位置，幫助使用者確保產(chǎn)品的品質(zhì)，并提高不良品檢修效率。它還率先使用可用數(shù)億次開(kāi)關(guān)的磁簧式繼電器（REED RELAY），是當(dāng)今測(cè)試涵蓋率*高，測(cè)試*穩(wěn)定，使用*方便，提供資料*的在線(xiàn)測(cè)試機(jī)。
系統(tǒng)性能
JET-300在線(xiàn)測(cè)試機(jī)(IN CIRCUIT TESTER)是經(jīng)由量測(cè)電路板上所有零件,包括電阻、電容、電感、二極體、電晶體、FET、SCR、LED 和IC等, 檢測(cè)出電路板產(chǎn)品的各種缺點(diǎn)諸如 : 線(xiàn)路短路、斷路、缺件、錯(cuò)件、零件不良或裝配不良等, 并明確地指出缺點(diǎn)的所在位置, 幫助使用者確保產(chǎn)品的品質(zhì), 并提高不良品檢修效率. 它還率先使用可用數(shù)億次開(kāi)關(guān)的磁簧式繼電器(REED RELAY), 是當(dāng)今測(cè)試涵蓋率**, 測(cè)試穩(wěn)定, 使用方便, 提供資料的在線(xiàn)測(cè)試機(jī).

以下是JET-300的產(chǎn)品特性
硬體規(guī)格
REED RELAY的掃描板

JET300的掃描板採(cǎi)用了可耐用二億次的REED RELAY，解決了ICT 掃描板容易損壞的問(wèn)題, 由于REED RELAY 的應(yīng)用，使JET-300在性能上大有改善。諸如：
1.Zener diode 測(cè)試電壓可達(dá)50v，所有測(cè)試點(diǎn)皆可使用。
2.小電容和小電感量測(cè)較準(zhǔn)確和穩(wěn)定，較不受溫度的影響。
3.電容極性的可偵測(cè)率較用CMOS RELAY時(shí)大為提高。
4.可耐高壓又有殘存電壓偵測(cè)功能，掃描板受到充分的保護(hù)。
5.配置功能測(cè)試的可行性較高。