【TOF-SIMS原位電化學(xué)表征測試】
TOF-SIMS技術(shù)是什么？TOF-SIMS（Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry）技術(shù)是一種高分辨率表面成分分析的方法。它通過將樣本表面轟擊成離子，并利用飛行時間質(zhì)譜儀測量這些離子的時間和質(zhì)量，從而確定樣本的成分及其分布情況。TOF-SIMS技術(shù)不僅可以提供元素分析信息，還可以提供離子組成分析、分子成像等詳細(xì)數(shù)據(jù)。

服務(wù)背景：鋰電池SEI膜形成機制研究需表面化學(xué)動態(tài)分析。
檢測重要性：實時捕捉電極-電解質(zhì)界面副反應(yīng)產(chǎn)物。
檢測周期：5-7個工作日.
廣電計量通過深入研究負(fù)極表面SEI膜的成分和結(jié)構(gòu)，可以為電池材料的改進(jìn)提供重要參考。此外，TOF-SIMS技術(shù)還可以用于研究電池內(nèi)部的化學(xué)反應(yīng)機制，優(yōu)化電池的工作溫度、電解液成分等條件，提高電池的性能和壽命。隨著技術(shù)的進(jìn)一步發(fā)展，TOF-SIMS有望為電池領(lǐng)域的科學(xué)家們提供更多關(guān)鍵的表面分析信息，推動電池技術(shù)的不斷創(chuàng)新。



【同步輻射XRD檢測】
背景：同步輻射光源亮度比常規(guī)X光高10?倍，1980年代開啟材料動態(tài)結(jié)構(gòu)研究新紀(jì)元。
重要性：捕捉電池充放電、催化反應(yīng)中的瞬態(tài)相變過程。
產(chǎn)品類型：鋰離子電池正極、燃料電池電解質(zhì)。

廣電計量可提供一站式同步輻射XRD檢測-高分辨原位晶體結(jié)構(gòu)演變分析檢測服務(wù)。

【導(dǎo)熱系數(shù)測試】
背景：隨著5G芯片功率密度提升，熱管理材料性能評估需求爆發(fā)式增長。
重要性：導(dǎo)熱系數(shù)是散熱器選型的核心參數(shù)，偏差10%可導(dǎo)致器件壽命減半。
產(chǎn)品類型：氮化鋁陶瓷、熱界面材料、碳化硅復(fù)合材料。
檢測標(biāo)準(zhǔn)：ASTM E1461（激光閃射法）、ISO 22007-4（熱流計法）。

廣電計量能力：
1、德國NETZSCH LFA 467 HyperFlash?，溫度范圍-100~1100℃；
2、各向異性材料三維導(dǎo)熱分析；
3、動力電池包導(dǎo)熱膠測試精度±3%。