低目數(shù)的砂紙，如 40# - 80#，磨粒較大且間距較寬。在磨樣時，每個磨粒與試樣表面的接觸面積相對較大，能夠在單位時間內去除更多的材料，因此對于去除試樣表面的氧化皮、毛刺、較大的加工余量或進行快速粗磨等操作非常有效，能快速將試樣表面的大部分不平整和雜質去除，使試樣達到初步的平整狀態(tài)。

對于表面狀況較好的試樣，可以直接從較高目數(shù)的砂紙開始磨樣，如 150# - 200#，這樣可以節(jié)省磨樣時間，同時避免過度磨削對試樣表面造成不必要的損傷。

對于一些對表面平整度和光潔度要求不是特別高的常規(guī)光譜分析，通常將試樣表面磨到 200# - 400# 砂紙的效果即可滿足要求，能去除表面雜質并提供相對平整的表面，使光譜分析能夠順利進行。