ICT設(shè)備的制造廠家各異，全球主要ICT自動測試設(shè)備生產(chǎn)廠商主要有Agilent Technologies安捷倫(美國)，Teradyne泰瑞達(dá)(美國)、Check Sum（美國）、AEROFLEX（美國）、WINCHY瑩琦、Hioki（日本）、IFR(AEROFLEX并購)、Takaya（日本）、Tescon（日本）, Okano（日本）、系統(tǒng)（臺灣）、JET(捷智）、TRI（德律）、SRC星河、安碩（ANSO）、Concord、Rohde & Schwarz、Scorpion 、Shindenski、SPEA、Tecnost-MTI、Testronics、WK Test 、Schuhll、Viper、PTI等等品牌。不同品牌ICT的測試原理相同或相似。

二手TR-5001E 運(yùn)用更之零組件及軟體技術(shù)所開發(fā)之新一代機(jī)種。其主要特性在于測試速度較傳統(tǒng)ICT快一倍以上。 此外，更具有可程式化開短路學(xué)習(xí)模式設(shè)定，滿足各種不同待測物之測試特性。對于高針點的產(chǎn)品或大批量之制程，無疑是一臺抵兩臺的選擇，無論在設(shè)備本身或治具投資上均可因此而大大降低成本。 二手德律ICT在線測試儀ICT58 銷售的所有設(shè)備 為二手設(shè)備 非原廠廠家 二手儀器銷售 二手儀器買賣 二手ICT,ICT在線測試儀，線路板檢測儀，二手德律ICT,星河ICT,捷智ICT，OKANO ICT TR-518FV , TR-518FE , TR-518FR , TR-5001 , SRC6001 , JET300NT

使產(chǎn)品一次良品率提高：提供大量的統(tǒng)計數(shù)據(jù)，以便生產(chǎn)管理者對生產(chǎn)工藝進(jìn)行及時監(jiān)督、調(diào)整、管理。 減少操誤判錯誤：ICT對錯誤檢測將準(zhǔn)確穩(wěn)定，避免人員對故障的錯誤猜測。 減少操作費：ICT是一次性對整板進(jìn)行測試，也可以同時測試多塊聯(lián)板，只需一個操作員工。產(chǎn)品經(jīng)過ICT測試以后，為后段的功能測試掃除一切隱藏性問題。 現(xiàn)代化的電子生產(chǎn)線，ICT58.COM擁有ICT進(jìn)行測試，是產(chǎn)品質(zhì)量優(yōu)良的卡片，是您接單的得力助手，是客戶發(fā)單的信心！

二手TR-5001E 運(yùn)用更之零組件及軟體技術(shù)所開發(fā)之新一代機(jī)種。其主要特性在于測試速度較傳統(tǒng)ICT快一倍以上。 此外，更具有可程式化開短路學(xué)習(xí)模式設(shè)定，滿足各種不同待測物之測試特性。對于高針點的產(chǎn)品或大批量之制程，無疑是一臺抵兩臺的選擇，無論在設(shè)備本身或治具投資上均可因此而大大降低成本。

產(chǎn)品特色 電腦自動學(xué)習(xí)并自動產(chǎn)生，開/短路、Pin Information及IC保護(hù)二極體之測試程式　 可網(wǎng)路連線，并結(jié)合資料庫管理及測試站監(jiān)控程式 Board View功能可即時顯示不良元件、針點之位置，方便檢修 大型主機(jī)設(shè)計，高密度SwitchingBoard，高可達(dá)3584測試點 應(yīng)用IC Clamping Diode技術(shù)，可輔助檢測 BGA 開路空焊問題 TR518FE是德律科技繼成功推出TR518F之后，運(yùn)用更之零組件及軟體技術(shù)所開發(fā)之新一代機(jī)種。

TR518FR是德律科技為滿足電子產(chǎn)業(yè)中各類產(chǎn)品對測試環(huán)境不同之要求，所推出之全系列產(chǎn)品之一。其切換電路板乃應(yīng)用且高壽命之機(jī)械式Reed Relay，適用模擬產(chǎn)品及高壓電流之檢測，并可整合動態(tài)量測 。而高密度之設(shè)計及軟件技術(shù)，使TR518FR之測點可高達(dá)2560測試點，其速度亦較傳統(tǒng)的ICT快80%以上。

定義　在線測試，ICT，In-Circuit Test，是通過對在線元器件的電性能及電氣連接進(jìn)行測試來檢查生產(chǎn)制造缺陷及元器件不良的一種標(biāo)準(zhǔn)測試手段。它主要檢查在線的單個元器件以及各電路網(wǎng)絡(luò)的開、短路情況，具有操作簡單、快捷迅速、故障定位準(zhǔn)確等特點。 是一種元器件級的測試方法用來測試裝配后的電路板上的每個元器件

飛針I(yè)CT基本只進(jìn)行靜態(tài)的測試，優(yōu)點是不需制作夾具，程序開發(fā)時間短。
針床式ICT可進(jìn)行模擬器件功能和數(shù)字器件邏輯功能測試，故障覆蓋率高，但對每種單板需制作的針床夾具，夾具制作和程序開發(fā)周期長。

它通過直接對在線器件電氣性能的測試來發(fā)現(xiàn)制造工藝的缺陷和元器件的不良。元件類可檢查出元件值的超差、失效或損壞，Memory類的程序錯誤等。對工藝類可發(fā)現(xiàn)如焊錫短路，元件插錯、插反、漏裝，管腳翹起、虛焊，PCB短路、斷線等故障。